Occasion JEOL JSM 840 #175953 à vendre en France

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ID: 175953
Scanning electron microscope Tungsten filament Film Camera CRT with 4x4 and 120mm camera backs. Orion digital capture system running on a separate PC which runs Windows 98. Eucentric goniometer stage 15mm x, 25 mm y, 31 mm z. Solid State Backscatter detector Liquid nitrogen trap Scan rotation and tilt correction Dual frame/zoom control Video recording mode Includes operating manuals and schematics.
JEOL JSM 840 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications de recherche et d'analyse de précision. Il a un canon d'émission de champ (FEG) qui génère des courants de faisceau élevés et une large gamme de tension pour la résolution et la capacité de faisceau souhaitée. Son processeur de signal numérique (DSP) et son balayage à grande vitesse assurent un balayage actif rapide et lisse. Le détecteur d'angle d'inclinaison ultra haute résolution fournit une auto-inclinaison précise et rapide. Le JSM 840 offre une plage de grossissement jusqu'à 300 000 x et une résolution jusqu'à 1,0 nanomètre. Son système EDS permet une analyse élémentaire rapide et précise. La capacité de commutation flexible entre différents modes (y compris SE, ESB, CL et canalisation SE/ESB) augmente la polyvalence des échantillons et permet un fonctionnement plus efficace. La commande de chambre à flux maintient un vide élevé, tandis que la commande de pression en boucle fermée minimise les interférences environnementales avec l'échantillon. JEOL JSM 840 dispose également d'une interface utilisateur intuitive avec des fonctions graphiques et une carte à puce graphique dédiée, ce qui simplifie le fonctionnement. Il peut stocker jusqu'à 256 images échantillons dans sa mémoire et peut être contrôlé à distance pour une utilisation efficace dans le temps. La conception intégrée à l'ordinateur permet le fonctionnement simultané de JSM 840 avec d'autres systèmes, tels que SEM/EDS et SEM/FIB. Il prend également en charge l'exportation de données vers des logiciels tiers. JEOL JSM 840 est un système d'échantillonnage fiable et polyvalent qui fournit des résultats supérieurs pour une variété d'applications de recherche. Son système haute performance assure des mesures précises avec un minimum d'effort de l'utilisateur. La conception robuste et le contrôle de la qualité offrent une fiabilité et une maintenabilité maximales. Avec sa combinaison de fonctionnalités et d'excellentes performances, JSM 840 est un puissant microscope électronique à balayage.
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