Occasion JEOL JSM 840 #9102733 à vendre en France

JEOL JSM 840 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une large gamme d'applications. Il fournit des images détaillées avec une résolution nanométrique et des temps d'acquisition de plusieurs milliers d'images par seconde. Il dispose d'une colonne électrostatique intégrale à deux pôles, d'une hauteur réglable, d'un équipement intégré de gravure humide et d'un filtre intégré à énergie ultra large bande. Le filtre d'énergie fournit une gamme d'énergie jusqu'à + ou - 1000 électrons Volts (eV), permettant ainsi l'optimisation des images pour différents matériaux et topographies de surface. JSM 840 a également un faisceau ionique focalisé qui peut délivrer des spécimens pour presque n'importe quelle condition d'imagerie. Une colonne d'image ultra-haute résolution avec une fonction de contrôle de l'astigmatisme variable numérique permet d'améliorer la qualité de l'image, des détails plus fins et des transitions de gradient plus lisses dans des conditions d'imagerie difficiles. Le système intégré de gravure humide réduit le temps et la complexité de la préparation régulière des échantillons. JEOL JSM 840 a de nombreuses applications potentielles, et il est bien adapté à une variété de matériaux, y compris le silicium semi-conducteur, les semi-conducteurs composés, la céramique et les couches de métallisation avancées. L'unité de commande sophistiquée s'étend au filtre d'énergie et à la source d'ions, permettant des réglages fins des paramètres d'imagerie et un contraste optimal. La colonne d'imagerie haute résolution, la gamme d'énergie ultra-large et la machine de gravure humide sont idéales pour l'étude du silicium semi-conducteur, des semi-conducteurs composés, de la céramique et des couches avancées de métallisation. JSM 840 dispose d'une chambre d'échange automatique d'échantillons qui simplifie le chargement et le déchargement des échantillons. La chambre d'échange est équipée d'un outil d'étage automatisé pour un chargement simple et cohérent des échantillons. L'actif de l'étage est capable d'atteindre des espaces serrés en raison de sa grande plage angulaire, permettant l'imagerie efficace d'échantillons dans des configurations difficiles d'échantillonnage ou d'assemblage. JEOL JSM 840 est un microscope électronique à balayage flexible, convivial et puissant qui peut fournir d'excellents résultats d'imagerie et une productivité améliorée.