Occasion JEOL JSM 840A #9039277 à vendre en France

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ID: 9039277
Scanning electron microscope (SEM) Includes: Morphological observation Full element analysis capability Observation of specimen to 10 nm or less Specification: Resolution: Secondary electron image: 4nm-10nm (WD = 8mm-39mm, Acc. Volt = 35kV) Backscattered electron image: 10mn (WD = 8mm, Acc. Volt = 35kV) Magnification: 10X-300,000X Image modes: Secondary electron image Backscattered electron image Electron channeling pattern Emission pattern image Specimen movement: X= 15mm, Y=25mm, Z=31mm, Tilt: 90 degree Rotation: 360 degree endless. Specimen holders: 12.5 mm dia. x 10 mmH, 32 mm dia. x 20 mmH, 50 mm dia. x 10 mmH Specimen exchange Airlock type, up to 32mm dia. specimen.
JEOL JSM 840A est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) fabriqué par JEOL Ltd. Engineering Company, leader mondial de la microscopie électronique. JEOL JSM-840A est un microscope électronique à balayage à haute résolution à faible dépression, avec une conception à grande chambre, permettant d'observer des échantillons jusqu'à 130 millimètres de diamètre à différents grossissements et tailles de champ sans avoir besoin d'échanger des échantillons. JSM 840A dispose d'une chambre d'ingénierie environnementale, d'un objectif haut de gamme de 80 millimètres et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés de type 3 mégapixels pour améliorer l'imagerie haute résolution. L'optique et le détecteur sont conçus avec le plus haut niveau de précision, fournissant des images avec le détail le plus précis. En outre, JSM-840A est spécialement conçu pour offrir une flexibilité, avec une large gamme de paramètres d'exploitation et de solutions logicielles. L'équipement offre en outre des capacités d'imagerie résolues en énergie et en angle pour l'imagerie scientifique des matériaux. Avec l'installation du sélecteur d'énergie dans la colonne, JEOL JSM 840A a la capacité de détecter avec précision les rayons X, les électrons et les signaux Auger pour l'analyse spectroscopique. Cette fonctionnalité unique est souvent utilisée pour l'analyse élémentaire, morphologique et chimique des échantillons. JEOL JSM-840A est en outre équipé de capacités de commande de pointe, permettant à l'utilisateur de déterminer avec précision les conditions de fonctionnement et de revenir à un ensemble prédéterminé de conditions avec quelques touches simples. En outre, le logiciel de contrôle externe du système permet aux utilisateurs de contrôler facilement plusieurs instruments à distance. Enfin, JSM 840A offre une excellente répétabilité et stabilité de fonctionnement et de qualité d'image grâce à sa propre unité de refroidissement avancée et sa machine d'entraînement hybride. La chambre à vide en céramique conductrice spéciale réduit encore l'interférence de l'outil, permettant des performances d'analyse et d'imagerie plus fiables. JSM-840A est un outil inestimable pour la recherche et l'analyse de matériaux, et n'est qu'un des nombreux produits JEOL qui peuvent répondre aux besoins des professionnels scientifiques.
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