Occasion JEOL JSM 840A #9069106 à vendre en France

JEOL JSM 840A Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil polyvalent pour produire des images d'échantillons à haute résolution en plan et en vue de côté. Le microscope utilise une source d'électrons pour détecter les électrons secondaires et rétrodiffusés dont les images sont projetées sur un écran luminophore. Le SEM fournit des images haute résolution de spécimens de 1 nm à 1000 μ m de taille. La principale composante du SEM est la source d'électrons d'émission de champ, qui consiste en un filament à partir duquel les électrons sont émis. Les électrons émis sont ensuite accélérés par haute tension, 7kV ou 15kV, pour traverser le canon et l'ouverture. Une lentille de pistolet correctement ajustée et le système de lentille d'extraction donnent aux électrons leur énergie nécessaire et les focalise sur un petit point, 1nm-1 μ m. Le système de balayage par faisceau d'électrons se compose de plusieurs déflecteurs et bobines de scanner à 3 axes qui sont utilisés pour produire des motifs bidimensionnels prédéterminés pour balayer la surface de l'échantillon. Le système de balayage du faisceau d'électrons déplace le faisceau dans un motif de raster présélectionné sur la surface de l'échantillon et les électrons secondaires (SE) et les électrons rétrodiffusés (ESB) sont recueillis par des détecteurs situés de part et d'autre de l'étage d'échantillonnage ou de l'étage lui-même. Les électrons traversent alors un amplificateur électronique qui amplifie et focalise davantage le faisceau sur la cible (écran luminophore) pour traitement et numérisation. Le faisceau d'électrons traverse une cellule pixel où les électrons et leur énergie associée créent une projection du faisceau de croisement sur la cible. L'image sur la cible est ensuite numérisée, sauvegardée et vue sur un moniteur, permettant une analyse quantitative des caractéristiques de l'échantillon. En plus de l'imagerie SEM, JEOL JSM-840A offre également une capacité d'analyse élémentaire en combinant la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) avec la composante SEM. Le module EDS est conçu pour la cartographie élémentaire et peut fournir des informations sur la composition élémentaire basées sur l'analyse du spectre énergétique et pour les petites régions d'intérêt. JSM 840A est un instrument massivement puissant capable de produire des images haute résolution avec des plages de grossissement allant jusqu'à 650 000 x. Bien que ce microscope soit plus lourd que la plupart, il offre des capacités de balayage plus grandes et plus polyvalentes. En tant que tel, il est un outil idéal pour la recherche académique et industrielle et les applications d'imagerie.