Occasion JEOL JSM 840A #9102734 à vendre en France

JEOL JSM 840A est un microscope électronique à balayage conçu pour fournir une imagerie haute résolution et l'analyse d'échantillons avec une grande profondeur de champs pour une meilleure analyse. Son environnement Ultra High Vacuum (UHV) et sa source d'électrons d'émission de champ fournissent une bonne résolution d'image. Il a un canon d'émission de champ avec un équipement d'optique spécial pour produire un faisceau d'électrons idéal et donner une meilleure résolution d'image. Ses détecteurs secondaires et rétrodiffuseurs avec une résolution de 3Å peuvent détecter les électrons émis par l'échantillon. JEOL JSM-840A a une capacité d'étage de 300mm, une gamme de tension d'accélération de 1kV à 30kV, et une fonction de colonne électronique pour ondes mobiles (ECTW) qui peut être utilisée pour effectuer des expériences telles que l'observation in situ de réactions chimiques. Ce système dispose également d'une unité de navigation à grande vitesse et de fonctions automatisées pour le transfert rapide d'échantillons et la cartographie automatisée. Ce SEM comprend également une capacité 3D native pour étudier les structures des échantillons. Il a un haut rapport de zoom allant jusqu'à 250X, un étage d'imagerie cellulaire, et une fonction automatisée de capture d'image et de couture. Cette machine a un grossissement maximum de 400,000X, il a donc une grande capacité à agrandir de petites caractéristiques ou particules. Il dispose d'un détecteur à 4 quadrants pour la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX) qui permet une combinaison d'analyse élémentaire et d'imagerie. JSM 840A dispose également d'une unité de traitement d'image qui peut améliorer la qualité de l'image en modifiant la luminosité et le contraste, en éliminant le bruit et en affûtant les bords des objets. En outre, il peut également capturer une imagerie A3 en champ plein unique en 15 secondes et offre la possibilité de capturer plusieurs champs pour le découpage ensemble comme une mosaïque. Ce microscope électronique à balayage est un outil idéal pour des applications telles que l'analyse des défaillances, l'analyse des défauts et l'analyse de surface. Son imagerie haute résolution le rend idéal pour observer les structures et les processus nanométriques.