Occasion JEOL JSM IC848A #9039276 à vendre en France

ID: 9039276
Scanning electron microscope (SEM) with EDS, 6" Includes: Full element analysis capability Large chamber design, 150 mm samples Load lock Full scanning in X and Y axis Observation of 10 nm or less Thermo Noran EDS detector (mounted) No software or other hardware Accelerating voltage: 0.2 to 40 kV (linked with bias, lens currents, and coil currents) Magnification: 10x (at 39mm working distance) to 300,000x 100x (fixed) Speciment movment rage: X-direction: 160mm Y-direction: 160mm Z-direction: 38mm Tilt : 0 to 60 degree Specimen exchange: By airlock: Up to 204mm dia. specimen holders By stage drawout: Available Speciment holder: 12.5mm dia. x 10mm H specimens (height adjustable) 102mm dia. x 0.5mm H specimens 153mm dia. x 1mm H specimens 204mm dia x 1mm H specimens.
JEOL JSM IC848A est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une gamme d'applications d'analyse et d'imagerie. Plus précisément, ce SEM fournit une résolution inégalée pour étudier les échantillons biologiques et physiques et pour produire une analyse précise de leurs microstructures. Avec un large éventail de capacités analytiques, JEOL IC848A est capable de produire une imagerie très détaillée et précise de diverses structures microscopiques. Ce SEM puissant et efficace est équipé d'une lentille Erwin Einzel haute résolution et d'une colonne d'électrons magnétiques quad-pôle avancée. Cette combinaison de technologies fournit un niveau élevé de précision dans l'analyse et l'imagerie des échantillons. De plus, l'équipement de balayage utilisé par ce SEM intègre une conception de champ fin, ce qui lui permet de capturer les détails les plus fins d'un échantillon à faible grossissement. Cette fonctionnalité fait de JEOL IC848A un outil précieux pour les applications de numérisation et d'imagerie. De plus, cet instrument dispose d'une colonne optique électronique et d'un système de lecture numérique permettant de détecter toute modification de la structure de l'échantillon à une résolution de 0,02 microns. Grâce à son unité de détection haute résolution et avancée, JEOL IC848A peut mesurer avec précision la microstructure de divers matériaux, notamment les métaux, la céramique et les matériaux composites. En termes de capacité d'imagerie, JEOL IC848A dispose d'un appareil photo multiplicateur d'électrons et d'un détecteur d'ultra-haute sensibilité. Ces deux caractéristiques fournissent des résultats d'imagerie précis et de haute qualité pour un large éventail de types d'échantillons. Les utilisateurs peuvent contrôler les fonctions optiques du SEM et gagner du temps en utilisant plusieurs systèmes de capture d'image en tandem. Pour améliorer ses performances, JEOL IC848A intègre la dernière technologie de lithographie à rayons X doux qui permet aux utilisateurs de comprendre la microstructure des matériaux d'une manière très précise. De plus, ce SEM fonctionne avec une machine d'inspection intégrée qui peut détecter les détails de surface d'un échantillon et effectuer une analyse élémentaire de tout matériau donné. Dans l'ensemble, JSM IC848A est un microscope électronique à balayage puissant et avancé qui offre une gamme de capacités d'analyse et d'imagerie. Avec ses fonctionnalités avancées et son imagerie haute résolution, il est un outil précieux pour caractériser et analyser avec précision les microstructures d'une variété de matériaux.
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