Occasion JEOL JSM IT100 #293594511 à vendre en France

JEOL JSM IT100 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) qui permet l'imagerie et l'analyse des nano- à l'échelle macro. Les niveaux élevés de grossissement, de résolution d'imagerie et de sensibilité élevée en font un outil précieux pour la recherche et le développement dans divers domaines, y compris la production de semi-conducteurs, la science des matériaux et l'analyse des défaillances. La source d'électrons est un canon ultra haute tension Super Bright, capable d'accélérer les électrons jusqu'à 30kV, qui produisent la quantité élevée de grossissement et de résolution que le microscope est connu pour. De plus, avec la caractéristique nanofocus, la taille du faisceau d'électrons peut être stable jusqu'à 25nm. De plus, la fixation analytique aux rayons X permet à JEOL JSM-IT 100 de basculer vers un mode de microscope électronique à transmission (TEM) avec un système de détection de plaque d'imagerie numérique (DIP), permettant une analyse élémentaire et structurale des échantillons. L'appareil photo numérique JSM IT 100 permet l'imagerie en temps réel et peut être utilisé pour générer des images 2D et 3D. La préparation de l'échantillon pour JEOL JSM IT 100 est simple pour une variété d'échantillons, la chambre ayant une grande chambre d'échantillon et un large éventail d'accessoires pour manipuler différentes formes d'échantillons. Certains de ces accessoires comprennent une fixation sous vide, un étage de cryo, un auto-échantillonneur et un étage de chauffage. Les résultats générés par JSM-IT 100 peuvent être utilisés à diverses fins, notamment pour l'analyse d'échecs de divers matériaux. Les capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse élémentaire du microscope permettent aux chercheurs d'identifier les problèmes avec les composants et de construire des simulations pour analyser la cause de l'échec. Le logiciel sophistiqué inclus avec JSM IT100 permet une analyse et une manipulation conviviales des données collectées. Il comprend un large éventail de capacités de traitement d'images et d'analyse de données, y compris l'imagerie avec amplitudes, l'imagerie de phase, l'analyse de particules et l'analyse élémentaire. Tous sont accessibles à travers le plateau d'automatisation et permettent d'obtenir facilement les résultats souhaités. Globalement, avec sa haute résolution, sa sensibilité et sa grande variété d'accessoires et de capacités d'analyse, JEOL JSM IT100 est un outil essentiel pour la recherche et le développement dans divers domaines. Son ensemble de fonctionnalités sophistiquées offre aux utilisateurs la polyvalence dont ils ont besoin pour tirer le meilleur parti de leurs expériences SEM.