Occasion JEOL JSM IT100 #9242147 à vendre en France

JEOL JSM IT100 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu principalement pour l'imagerie, l'analyse et la préparation de spécimens pour un large éventail de matériaux. Cette SEM haute performance offre une excellente flexibilité pour la caractérisation précise des matériaux. JEOL JSM-IT 100 utilise une source d'électrons à basse tension d'émission de champ (FEG) présentant des performances très stables qui permettent une excellente résolution et un fonctionnement ultra basse tension. L'étape d'échantillonnage automatisé et les dispositifs de visualisation créent un flux de travail d'imagerie et d'analyse efficace pour un accès facile aux SEM. L'équipement maintient une reproductibilité exemplaire des paramètres d'imagerie, permettant d'obtenir des résultats précis et reproductibles sur différents échantillons. Le JSM IT 100 est équipé d'un grand champ de vision, d'un fort grossissement allant jusqu'à 220,000X, et de champs à faible perte d'énergie dans les lentilles, permettant une imagerie très détaillée. Le système dispose également d'un plancher de bruit faible pour une analyse signal-bruit précise. De plus, JEOL JSM IT 100 propose un nouveau mode d'imagerie - la diffraction électronique par criblage (SED) - qui permet une imagerie haute résolution dans des conditions de vide ultra-élevé tout en conservant une excellente résolution en profondeur. JSM IT100 est une unité polyvalente avec une large gamme d'applications. Il peut être utilisé pour l'analyse de surface et l'imagerie de matériaux, de métaux, de structures, de nanomatériaux et d'appareils, l'imagerie 3D, l'analyse de défaillance, et plus encore. Il peut également être utilisé pour la caractérisation des matériaux, comme les mesures de la taille des grains, l'analyse de la distribution, l'identification de phase et l'analyse des défauts. Avec son étage automatique SD-BP, les utilisateurs peuvent préparer des échantillons de grande surface très rapidement avec un haut degré de précision. Les capacités d'analyse du JSM-IT 100 peuvent également être combinées avec un large éventail d'équipements environnementaux et de systèmes d'imagerie, tels que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la microscopie fluorescente à rayons X (XFM) et les systèmes optiques laser, pour des recherches et des flux de travail polyvalents. Dans l'ensemble, JEOL JSM IT100 est un microscope électronique à balayage très avancé conçu pour la caractérisation des matériaux et la préparation des échantillons. Il est facile à utiliser et offre aux utilisateurs une excellente résolution, stabilité et précision, ainsi qu'un large éventail de capacités analytiques. Cette machine est parfaite pour l'étude d'une large gamme de nanomatériaux et d'appareils.