Occasion JEOL JSM IT500 #293759670 à vendre en France

JEOL JSM IT500 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour des applications avancées de recherche et d'imagerie. Cet instrument de pointe combine des capacités d'imagerie haute résolution et des fonctionnalités conviviales améliorées pour répondre aux divers besoins des chercheurs dans divers domaines, tels que la science des matériaux, les sciences de la vie, la géologie et les industries des semi-conducteurs. JSM IT500 dispose d'une source d'électrons d'émission de champ avec un canon à haute luminosité, permettant une résolution d'imagerie exceptionnelle à la fois basse et haute tension. Cela permet aux chercheurs de saisir des informations microstructurales détaillées avec précision et précision, ce qui les rend idéales pour analyser les nanostructures, les nanoparticules et la morphologie de surface. Avec une tension d'accélération maximale de 30 kV, JEOL JSM IT500 offre des options d'imagerie polyvalentes pour une large gamme d'échantillons. L'instrument est équipé de détecteurs multiples, y compris des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des détecteurs de spectroscopie X à dispersion d'énergie, offrant des capacités d'imagerie et d'analyse complètes pour caractériser divers types d'échantillons. JSM IT500 dispose d'une interface utilisateur intuitive et de fonctionnalités d'automatisation avancées, ce qui le rend facile à utiliser et à naviguer pour les utilisateurs novices et expérimentés. Le microscope est contrôlé par un logiciel propriétaire JEOL, qui offre une variété de modes d'imagerie, d'outils de traitement d'image et de fonctions d'analyse pour faciliter l'acquisition et l'interprétation efficaces des données. Une des caractéristiques clés de JEOL JSM IT500 est ses capacités analytiques avancées, grâce à la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et aux systèmes de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD). Le détecteur EDS permet l'analyse élémentaire et la cartographie de la composition chimique, tandis que le système EBSD permet la cartographie de l'orientation cristallographique et l'identification de phase dans les matériaux cristallins. En plus de l'imagerie et de l'analyse, JSM IT500 offre des capacités de reconstruction 3D avancées grâce à l'imagerie bloc-face série et des fonctionnalités automatisées de balayage d'étages. Cela permet aux chercheurs de générer des modèles 3D détaillés d'échantillons pour une visualisation et une analyse approfondies de structures complexes et de caractéristiques internes. JEOL JSM IT500 est équipé d'une gamme d'accessoires et d'options pour améliorer ses performances et sa polyvalence, y compris des capacités de pression variable pour l'imagerie d'échantillons non conducteurs, des chambres de microscopie in situ pour des expériences dynamiques et des systèmes de refroidissement cryogénique pour les échantillons sensibles à la température. Dans l'ensemble, JSM IT500 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre des capacités d'imagerie, d'analyse et de reconstruction 3D de pointe pour un large éventail d'applications de recherche. Avec son imagerie haute résolution, ses fonctionnalités d'automatisation avancées et ses outils d'analyse polyvalents, JEOL JSM IT500 est un outil indispensable pour les chercheurs qui cherchent à repousser les limites de la microscopie et à explorer le monde microscopique avec précision et détail.