Occasion JEOL JSM T300 #293664531 à vendre en France

JEOL JSM T300 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse de matériaux jusqu'au niveau nano-échelle. JSM T300 a un large éventail d'applications dans de nombreux domaines de recherche, y compris la science des matériaux, la cristallographie, la biomédecine et les sciences de la vie. Il est équipé de multiples technologies de pointe qui permettent aux chercheurs de continuer à repousser les limites de la découverte scientifique. JEOL JSM T300 dispose d'une tension d'accélération 1kV, lui donnant la plus haute résolution d'équipement disponible dans la gamme « T-Series ». Ceci est couplé à une chambre à pression variable qui peut atteindre des pressions aussi basses que 4 Pa, permettant l'imagerie des matériaux échantillons même les plus délicats. Il est également équipé d'un détecteur d'électrons secondaire (SE) avec un détecteur d'électrons rétrodiffusé supplémentaire (ESB) pour saisir à la fois des informations topographiques à haute résolution et des informations compositionnelles à l'échelle nanométrique. En plus des deux détecteurs, JSM T300 possède plusieurs autres fonctionnalités qui en font un choix idéal pour l'imagerie avancée. Il dispose d'un étage motorisé rapide à 5 axes avec des capacités de déplacement X, Y, Z, Rz et Rn et une grande chambre d'échantillonnage de 294 mm sur 325 mm. Il dispose également d'un faisceau de particules chargées avancé (CPB) et d'une plate-forme d'étage avec une fonction de faible vibration. En utilisant ces fonctionnalités, JEOL JSM T300 peut effectuer une imagerie et une analyse répétables à des niveaux extrêmement précis. JSM T300 offre une large gamme de fonctionnalités innovantes conçues pour améliorer ses performances. Il comprend un système EDAX (Energy Dispersive X-Ray Analysis), une unité d'autofocus à double faisceau, un étage d'autotillation, une plate-forme d'étage à faible vibration et une machine à faisceau laser défocalisé (DLB) pour produire des images de contraste élevé. Il dispose également d'une caméra haute résolution avec une résolution maximale de 12 mégapixels pour capturer des images de haute qualité jusqu'à 50.000x grossissement. Dans l'ensemble, JEOL JSM T300 est un outil avancé de microscopie électronique à balayage haute performance qui est conçu pour les chercheurs qui ont besoin des plus hauts niveaux d'imagerie et d'analyse. Son large éventail de caractéristiques, sa grande capacité d'échantillonnage et sa chambre à pression variable permettent aux chercheurs d'imaginer et d'analyser des matériaux nanométriques avec la plus grande précision et précision.