Occasion JEOL JSM T300 #9252204 à vendre en France

ID: 9252204
Scanning Electron Microscope (SEM) Secondary electron detector for imaging Image resolution: 200 nm at 50,000x magnification Operating voltage: 5 kV to 30 kV.
JEOL JSM T300 est un microscope électronique à balayage sur table (SEM) conçu pour des applications à la fois éducatives et de recherche. Il est équipé d'une résolution ultra-haute et d'une capacité de capture d'image tridimensionnelle, permettant aux utilisateurs d'étudier les échantillons en détail. A l'aide de JSM T300, des échantillons sont placés sur le porte-échantillon puis balayés avec le faisceau d'électrons. Lorsque le faisceau d'électrons balaye la surface de l'échantillon, les électrons interagissent avec l'échantillon, ce qui provoque la génération de signaux différents. Ces signaux sont ensuite mesurés et analysés, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images 3D de l'échantillon à haute résolution. Le faisceau d'électrons utilisé dans JEOL JSM T300 est généré à l'aide de bobines d'astigmatisme. Ces bobines produisent un canon à électrons avec un large courant de faisceau d'électrons et un grossissement réduit à haute énergie. Ce faisceau permet à l'utilisateur d'obtenir des images à haute résolution à faible grossissement, tout en permettant une large gamme de grossissements et de profondeurs de champ. JSM T300 utilise également un détecteur Everhart-Thornley pour la détection de SE (électrons secondaires) et BE (électrons rétrodiffusés). Ce détecteur offre une grande sensibilité, permettant à l'utilisateur de déterminer avec précision la topographie de surface et les compositions élémentaires de l'échantillon. En outre, JEOL JSM T300 peut être équipé d'un certain nombre d'accessoires en option, tels que EDS (spectromètre dispersif d'énergie) et un détecteur SE dans la lentille. Ces accessoires permettent aux utilisateurs d'améliorer encore les capacités d'imagerie de JSM T300, ce qui leur permet d'effectuer des analyses avancées d'échantillons et de mieux comprendre la composition de l'échantillon. JEOL JSM T300 est capable de fonctionner dans une variété de niveaux de vide, de < 10-7mbar à > 10-4mbar. Cela permet aux utilisateurs de travailler avec une variété d'échantillons, y compris ceux à faible stabilité thermodynamique. JSM T300 dispose également d'une interface informatique facile à utiliser, qui simplifie le fonctionnement de l'instrument et permet une acquisition rapide et efficace des images. JEOL JSM T300 est un instrument idéal pour toute une gamme d'applications, des études en sciences biologiques et des matériaux aux inspections quotidiennes des tâches. Avec ses capacités d'imagerie avancées et une variété d'accessoires optionnels, JSM T300 offre aux utilisateurs un outil fiable et efficace pour obtenir des images précises et détaillées des échantillons.
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