Occasion JEOL JSM T330A #116691 à vendre en France
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ID: 116691
Scanning Electron Microscope with Tracor Northern Z-Max 30 Series TN5502N EDS System
Resolution: 5nm (SEI, 30kV, WD=10nm)
Magnification:
LGS 15x (WD=48mm) -200,000x
SGZ 35x (WD=38mm)-200,000x
Accelerating voltage: 0.5-30Kv
Cooling water: 2L per minute
Power requirement: 100VAC 1Phase 50/60Hz, 2kVA
Constant Current: 20A, Starting Current: 60A
Tracor Northern Z-Max 30 Series TN-5502N EDS system specifications:
Z-Max 30 Series Model: 98-629I3/54S
Controller Model: TN-5502N Assy.:700P117748
Laboratory Resolution: 148.6
Laboratory Peak/BKGD.: 889
Bias Voltage: -400V
Heater Voltage: 10.0
Controller Power Requirement: 115VAC 12A or 230VAC 7A.
JEOL JSM T330A est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un faisceau d'électrons pour analyser la surface d'un échantillon. Ses caractéristiques permettent l'imagerie haute résolution et l'imagerie tridimensionnelle pour une variété d'échantillons. JSM T330A fonctionne sur une source d'électrons 15kV et a une résolution maximale de 0,3 nanomètres, permettant l'imagerie à la plus haute résolution de petits échantillons ou de zones. De plus, il utilise un capteur d'étage motorisé et un tube photomultiplicateur pour acquérir des images numériques de l'échantillon, permettant une mesure en temps réel et une analyse précise de l'échantillon. Le capteur d'étage motorisé peut également être programmé avec des opérations spécifiques, permettant un fonctionnement automatique du balayage et de l'alignement des échantillons. JEOL JSM T330A est capable de créer des images ultra haute définition, grâce à son détecteur d'électrons rétrodiffusé intégré (BSD). Ce dispositif est capable de collecter une large gamme de détecteurs et de les mettre à la disposition de l'utilisateur afin d'analyser l'échantillon de différentes manières. JSM T330A offre également une gamme de filtres et de plaques pour faciliter l'analyse des échantillons organiques et inorganiques. JEOL JSM T330A est équipé d'un détecteur EELS multi-éléments ; cette caractéristique permet d'améliorer l'imagerie à l'échelle atomique et d'identifier les éléments présents dans l'échantillon. Cette caractéristique est extrêmement utile dans l'étude de la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et de la spectroscopie aux rayons X. JSM T330A offre également une gamme de capacités d'orientation et de rotation, permettant la manipulation d'échantillons pendant l'analyse. Cette caractéristique est très utile pour l'imagerie d'échantillons et d'objets tridimensionnels, en particulier dans des structures complexes. Enfin, JEOL JSM T330A est construit avec un système intégré d'aspiration et d'ionisation des gaz qui prévient la contamination des échantillons. Ce système est extrêmement utile pour le balayage environnemental et la microscopie électronique, permettant l'analyse d'échantillons en temps réel. Dans l'ensemble, JSM T330A est un microscope électronique à balayage extrêmement utile qui offre une imagerie haute résolution et une analyse complète des échantillons. Ses caractéristiques permettent le fonctionnement automatique du balayage et de l'alignement des échantillons, ainsi que l'analyse en temps réel des échantillons organiques et inorganiques. De plus, le système intégré d'aspiration et d'ionisation des gaz est extrêmement utile pour garder l'échantillon non contaminé et permet l'analyse d'échantillons complexes en temps réel.
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