Occasion JEOL JSM T330A #9003668 à vendre en France

JEOL JSM T330A
ID: 9003668
Scanning electron microscope.
JEOL JSM T330A est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de matériaux. Il utilise un faisceau d'électrons hautement focalisé pour scanner la surface d'un échantillon et recueillir des informations détaillées. Le microscope est équipé d'une variété de caractéristiques et de composants avancés, ce qui en fait un outil d'analyse polyvalent pour un large éventail d'applications industrielles, biologiques et médicales. Le microscope est construit sur un scanner X-Y-Z avancé qui fournit un contrôle précis du mouvement et le positionnement des échantillons. Il comporte également une grande étape d'échantillonnage automatisé pour accroître la couverture de la zone d'échantillonnage. Le microscope utilise une colonne électronique de 20 à 30 kV avec une plage de tension d'accélération de 0,1 et 30 kV. Il dispose également d'un détecteur de rétrodiffusion à l'état solide qui permet une large gamme de types d'analyse, y compris l'électron rétrodiffuseur (ESB), l'électron secondaire (SE) et l'imagerie assistée stochastique (SAE). Le microscope dispose également d'un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) qui permet l'analyse élémentaire des échantillons. JSM T330A a une résolution d'image de 1 à 5 nm et une distance de travail de 150 mm. Il est équipé d'une chambre d'environnement/vide qui peut être utilisé dans les deux vide ou une plage de pression de 4 x 10-6 à 3 x 10-3 Torr. Cela permet d'examiner un large éventail de substrats d'échantillons. La chambre contient également un régulateur de température de rampe d'étage pour travailler dans des températures allant de -128 à 250oC. JEOL JSM T330A dispose d'une interface utilisateur pratique qui facilite la manipulation des échantillons. Il offre une variété d'options d'imagerie, d'analyse et de contrôle d'automatisation pour une flexibilité maximale. Il s'agit d'une plateforme à vocation générale qui convient bien à un large éventail de domaines, y compris la science des matériaux, l'électronique et la recherche médicale. Il est particulièrement bien adapté pour l'analyse de matériaux avancés avec des caractéristiques complexes.
Il n'y a pas encore de critiques