Occasion JEOL JWS 2000 #293621661 à vendre en France

JEOL JWS 2000 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse avancées. C'est un outil d'imagerie qui combine la puissance d'un SEM d'émission de champ avec les technologies les plus récentes pour fournir des images haute résolution d'informations nano-échelle. Cela fait de JWS 2000 un instrument idéal pour caractériser les propriétés des matériaux depuis les surfaces jusqu'au niveau submicronique. JEOL JWS 2000 est équipé d'une source d'émission de champ pour l'imagerie précise. Cette source fournit un haut niveau de résolution, couplé à une faible tension d'accélération et un faible bruit. La haute résolution est encore améliorée avec les derniers détecteurs à faible bruit, permettant une détection précise des caractéristiques les plus petites. JWS 2000 dispose également d'une grande chambre de travail et d'une large gamme de tension, permettant aux utilisateurs de sonder de grands échantillons sans sacrifier la résolution. JEOL JWS 2000 réalise des applications d'imagerie et d'analyse sur une même plateforme. Il est équipé d'une gamme d'outils d'analyse avancés, y compris la spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDX), l'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) et la cathodoluminescence (CL). EDX fournit des informations sur la composition élémentaire et chimique tandis que le détecteur d'ESB et le CL permettent l'imagerie des propriétés du matériau à partir de la surface et de la sous-surface de l'échantillon. JWS 2000 fournit également une gamme de mesures d'imagerie, telles que le contraste, le rapport d'aspect et la largeur de ligne. JEOL JWS 2000 offre une gamme de fonctionnalités automatisées pour une plus grande facilité d'utilisation. Il dispose d'un système d'alignement automatique pour le positionnement précis du faisceau, d'un changeur d'échantillon automatisé pour le traitement rapide d'échantillons multiples, et d'un contrôle automatique de la tension et de l'inclinaison pour l'acquisition et l'analyse d'images précises. En outre, JWS 2000 supporte l'accès à distance via un client/serveur et une interface Web. Cela permet aux utilisateurs d'exploiter le SEM de n'importe où dans le monde. JEOL JWS 2000 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir une imagerie et une analyse à haute résolution de matériaux et de structures nanométriques. Sa source d'émission sur le terrain, ses détecteurs avancés et sa large gamme de tension permettent une imagerie précise, tandis que sa gamme d'outils d'analyse, ses fonctionnalités automatisées et son accès à distance offrent une facilité d'utilisation et un contrôle maximal. JWS 2000 est l'instrument idéal pour la caractérisation nanométrique des matériaux et des surfaces.