Occasion JEOL JWS 7500 #9130302 à vendre en France

JEOL JWS 7500 est un microscope électronique à balayage de haute précision (ou SEM) qui permet de visualiser et de caractériser des images très détaillées de spécimens microscopiques jusqu'au niveau des atomes individuels. L'instrument utilise un faisceau d'électrons à basse énergie pour balayer rapidement la surface de l'échantillon et révéler des caractéristiques tridimensionnelles complexes dans des détails extrêmes. Le résultat est une carte tridimensionnelle très détaillée de la surface du spécimen qui révèle des caractéristiques uniques non visibles sous un microscope lumineux. JWS 7500 propose un large éventail d'options d'imagerie et de détectabilité pour répondre aux besoins des chercheurs dans divers domaines. Il s'agit notamment des capacités d'imagerie à haute résolution et d'analyse élémentaire, qui permettent aux scientifiques de déterminer la composition chimique des échantillons, ainsi que des capacités d'imagerie et d'analyse à l'échelle nanométrique, permettant aux chercheurs d'effectuer des mesures très précises au niveau des atomes individuels. L'équipement est basé sur une colonne électronique à balayage haute précision corrigée Cs, qui est capable de produire des images très détaillées à des résolutions aussi basses que 0,35 nm. La colonne est optimisée pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons de taille modérée à très grande, et dispose d'une gamme d'outils avancés de manipulation d'échantillons, y compris un système ouvert de revêtement pulvérisé (SCS), qui est utile pour enduire les échantillons fragiles pour les protéger contre les dommages du faisceau d'électrons. JEOL JWS 7500 est également capable d'imager et d'analyser des matériaux à haut rapport d'aspect tels que des feuilles de carbone et de graphène, ainsi que de mener des expériences de microscopie acoustique à balayage (SAM) pour l'imagerie de silicium ultra-mince et d'autres matériaux fragiles. Les autres caractéristiques comprennent une unité réglable en angle détecteur pour optimiser les conditions d'imagerie, une capacité avancée de correction d'inclinaison, une machine de commande de déviation, et une foule d'autres fonctionnalités. JWS 7500 est un excellent choix pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin d'un SEM haute performance pour l'imagerie et l'analyse des échantillons jusqu'au niveau des atomes individuels. L'outil est capable de produire des images tridimensionnelles extrêmement détaillées de surfaces d'échantillons, permettant aux chercheurs de caractériser avec précision les échantillons même à l'échelle nanométrique. En outre, l'actif offre une gamme d'options avancées d'imagerie et d'analyse pour répondre aux besoins des utilisateurs dans une variété de domaines, ce qui en fait un outil précieux et polyvalent pour une utilisation à la fois dans les milieux de recherche et industriels.