Occasion JEOL JWS 7500E #293616492 à vendre en France

JEOL JWS 7500E
ID: 293616492
Wafer inspection system.
JEOL JWS 7500E est une version de nouvelle génération du microscope électronique à balayage de série JEOL JWS (SEM). JWS 7500E dispose de hautes performances électroniques-optiques et d'une gamme de capacités de pointe pour la recherche et les applications industrielles. Ce SEM utilise un objectif électrostatique à champ plat pour obtenir une qualité d'image supérieure et une haute résolution. Le système de filtre à haute performance permet une analyse élémentaire précise. JEOL JWS 7500E est équipé d'une source d'électrons haute tension haut de gamme, offrant une excellente stabilité haute tension, une imagerie haute résolution à vide bas et une imagerie sélective haute énergie et une spectroscopie sur une large gamme de tensions d'accélération. JWS 7500E dispose d'une étape stéréotaxique d'échantillonnage automatique avec un support de contrôleur multiple qui prend en charge les opérations motorisées et manuelles, permettant un positionnement rapide et précis de l'échantillon. Ce SEM dispose également d'un logiciel à haut débit pour la collecte automatisée de données, y compris la cartographie et la caractérisation. En outre, la grande gamme dynamique du SEM permet une excellente imagerie de contraste élevé, même des échantillons difficiles. JEOL JWS 7500E peut capturer des images dans une variété de modes et de résolutions, y compris SE, ESB, WDX, EBIC, STEM, SED et HAADF, ce qui rend le SEM adapté à une large gamme d'applications. JWS 7500E est également équipé d'un système de filtre d'énergie et de détecteurs de diffraction de rétrodiffusion d'électrons (EBSD). La conception d'architecture ouverte avancée de JEOL JWS 7500E permet d'ajouter d'autres améliorations à l'avenir. Pour les applications industrielles ou de production, JWS 7500E propose des systèmes optionnels de chargement rapide des échantillons et de détection automatisée des défauts pour l'inspection non destructive des échantillons. Le SEM offre également un mode de conversion à haute vitesse pour l'imagerie 2D de large surface et l'imagerie 3D de grands échantillons. JEOL JWS 7500E offre des performances et des fonctionnalités de pointe, ce qui en fait le choix idéal pour les applications industrielles, de recherche ou de production.
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