Occasion JEOL JWS 7500E #293761017 à vendre en France

ID: 293761017
Wafer inspection systems.
JEOL JWS 7500E est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour l'analyse avancée. Doté d'un équipement d'entraînement avancé, JWS 7500E fournit une précision sous-nanométrique pour des capacités d'imagerie, d'analyse et de mesure à l'échelle nanométrique. Le système a un grossissement pratique maximum de 250 000 x, permettant un niveau de détail inégalé dans l'imagerie et l'analyse. JEOL JWS 7500E dispose d'un canon FEG avancé et d'une double machine de visualisation monoculaire, offrant un faisceau stable et homogène et une imagerie haute résolution. L'outil d'imagerie consiste en un canon à émission de champ (IFEG) ou un canon à émission de champ (FEG) avec cinq lentilles d'électrons, y compris une lentille de télescope doublet et un objectif de haute performance. Cette configuration permet à l'utilisateur de choisir entre les modes d'imagerie, les tailles d'ouverture et les paramètres propres à l'appareil. JWS 7500E a un actif de déflecteur octopole et des capacités avancées de stabilisation d'image pour fournir une stabilité d'image maximale. Ce modèle comprend un équipement de contrôle informatique intégré pour le contrôle complet des fonctions et des réglages du microscope. Un système d'entraînement avancé fournit un mouvement de balayage allant jusqu'à 10mm par seconde, permettant une taille et une vitesse inégalées dans les applications d'imagerie. JEOL JWS 7500E est un spectromètre dispersif d'énergie avancé (EDS) avec un détecteur de dérive de silicium à 300 éléments. L'unité de détection peut être ajustée en taille, sensibilité et champ de vision pour détecter des éléments allant du bore à l'uranium avec une résolution allant jusqu'à 10 000 x. Le détecteur de dérive de silicium peut détecter des éléments de taille inférieure à 0,4nm avec une limite de détection inférieure à 1M pour les éléments majeurs et 0.1M pour les éléments mineurs. JWS 7500E dispose également d'une chambre de filtration des gaz, permettant un environnement d'échantillonnage stable qui est essentiel pour l'analyse quantitative. JEOL JWS 7500E est idéal pour un large éventail de tâches nécessitant une imagerie très précise et de qualité, des matériaux biologiques aux nanomatériaux. La combinaison de sa machine d'imagerie avancée, de la spectrométrie dispersive d'énergie et des capacités analytiques en font un instrument vraiment unique pour la recherche avancée et les applications d'imagerie.
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