Occasion JEOL JWS 7500E #293761986 à vendre en France

JEOL JWS 7500E est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) spécialement conçu pour la recherche et les applications industrielles. Il offre des performances d'imagerie avancées, y compris l'imagerie haute résolution à des grossissements élevés (jusqu'à 18 000 x) et une capacité d'imagerie à faible kV. JWS 7500E est équipé d'une variété d'optiques électroniques, dont un émetteur Schottky, un triplet hors axe, un émetteur de champ cathodique froid et un condenseur large faisceau, qui permettent tous une manipulation précise du faisceau d'électrons. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir une imagerie haute résolution et un contraste supérieur pour une grande variété de types de spécimens tels que la matière organique, les métaux et la céramique. En plus des puissantes capacités d'imagerie et d'analyse, JEOL JWS 7500E est également équipé d'un étage d'échantillonnage automatisé. Sa technologie « Smart Stage » permet le réglage et la correction automatiques de l'étage de spécimen pour assurer une imagerie précise et cohérente. JEOL offre également une variété de fonctionnalités automatisées, y compris l'analyse in situ, la métrologie optique et l'imagerie de surface. JWS 7500E offre également un certain nombre de capacités analytiques avancées, y compris l'imagerie numérique, la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), la spectroscopie à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS), la fluorescence X (XRF) et l'analyse de cathodoluminescence (CL). Les systèmes EDS et CL fournissent des analyses élémentaires et compositionnelles, tandis que WDS et XRF peuvent être utilisés pour obtenir des analyses de surface supplémentaires. Toutes ces capacités font de JEOL un instrument idéal pour l'analyse des matériaux. JEOL JWS 7500E est également livré avec une gamme de fonctions de contrôle et orientées vers l'utilisateur. Il dispose d'une interface graphique en temps réel qui permet aux opérateurs d'ajuster les paramètres, les grossissements et l'angle de l'étage de spécimen. Cette interface intuitive facilite le fonctionnement de JEOL et permet un niveau de contrôle avancé. JWS 7500E est un microscope puissant conçu pour répondre aux besoins des organisations de recherche et industrielles. Ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées permettent l'observation et la caractérisation détaillées des spécimens, ce qui en fait un choix idéal pour les applications d'analyse matérielle.