Occasion JEOL JWS 7500E #9224662 à vendre en France

JEOL JWS 7500E est un microscope électronique à balayage (SEM) optimisé pour l'imagerie haute résolution. Il offre un large éventail d'options pour améliorer les capacités d'imagerie et fournir des mesures précises qui sont reproductibles. Ce microscope électronique à balayage est équipé d'un puissant objectif corrigé de forme et d'un étage automatisé pour permettre une plus grande précision et une imagerie plus contrastée. JWS 7500E dispose d'un équipement intégré d'alignement des faisceaux qui permet d'assurer un positionnement précis des faisceaux. JEOL JWS 7500E offre un système de balayage intégré capable de fournir des images avec une résolution allant jusqu'à 2nm. L'unité dispose également d'une source d'électrons d'émission de champ supplémentaire pour l'imagerie à haute résolution. Cette machine est capable de détecter rapidement des électrons à balayage et peut manipuler un large éventail de particules telles que des composés organiques et des objets non métalliques. Une autre caractéristique de JWS 7500E est le canal de rétrodiffusion des électrons qui peut fournir le contraste et la perception de la profondeur. JEOL JWS 7500E est équipé d'un manipulateur, qui permet à l'utilisateur de manipuler des échantillons difficiles à atteindre, en veillant à ce que l'échantillon ne soit pas endommagé pendant l'analyse. Le manipulateur peut accueillir une variété de tailles et de formes d'échantillons, y compris la capacité de rotation et de basculement. L'étape d'échantillonnage automatisé aide également à fournir un environnement cohérent et répétable pour l'observation et les mesures. JWS 7500E offre également un logiciel de traitement d'image avancé qui permet à l'utilisateur d'analyser différents paramètres d'une image. Cet emballage est capable de mesurer la surface et le volume, de compter les particules et de segmenter les objets en fonction de la couleur et de la texture. Le logiciel dispose également de capacités de reconstruction 3D, qui peuvent fournir aux ingénieurs plus de détails et de clarté des images traitées. Le logiciel optionnel de JEOL JWS 7500E peut également offrir une gamme de techniques analytiques intégrées. Ces techniques comprennent la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la microanalyse à rayons X et la cathodoluminescence (CL). Ces techniques aident à améliorer la résolution d'imagerie et fournissent des informations chimiques précieuses pour une analyse plus approfondie. JWS 7500E est un excellent microscope électronique à balayage qui offre une qualité d'image exceptionnelle et une durabilité incroyable. En plus de ses capacités d'imagerie avancées, il offre également une gamme de techniques d'analyse, pour aider l'utilisateur à obtenir des informations plus utiles de leurs échantillons. JEOL JWS 7500E fournit un outil précieux pour plusieurs applications telles que la recherche sur les matériaux, l'étude des semi-conducteurs et de l'électronique et la recherche biomédicale.