Occasion JEOL JWS 7500E #9299482 à vendre en France

JEOL JWS 7500E est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui offre des performances d'imagerie haut de gamme et des applications polyvalentes. Ce microscope électronique à balayage utilise un détecteur d'électrons secondaire toujours thornée, qui fournit une haute sensibilité et une imagerie à faible bruit. En outre, JWS 7500E est livré avec un détecteur d'électrons de rétrodiffusion standard, permettant aux utilisateurs d'acquérir des images d'électrons secondaires et de rétrodiffusion, ainsi que de détecter l'abondance relative des éléments dans un échantillon. JEOL JWS 7500E dispose également d'un appareil photo numérique EverNew SEN qui fournit une imagerie haute résolution à des résolutions de pixels allant jusqu'à 2 048 x 2 048. Cette caméra numérique est équipée d'un processeur vidéo interne de 30 bits et d'un capteur CCD à l'état solide refroidi par azote liquide pour fournir le plus haut niveau de rapport signal/bruit. En outre, JWS 7500E possède un faisceau normal avancé fonctionnant en Z et une imagerie par électrons secondaires à haute résolution (SEM). JEOL JWS 7500E Scanning Electron Microscope est également équipé d'un équipement sous vide, spécialement conçu pour l'imagerie électronique à haute résolution SEM et rétrodiffusion (BSEI). Ce système de vide est équipé d'une pompe à traînée ionique turbo-moléculaire ainsi que d'une aube rotative, d'une traînée turbo-moléculaire et de pompes à ions qui permettent un fonctionnement à vide ultra-élevé. JWS 7500E est également livré avec une unité d'auto-échantillonnage, permettant le transfert rapide et pratique des échantillons entre les endroits d'imagerie. En outre, JEOL JWS 7500E Scanning Electron Microscope fournit une variété de techniques, y compris la capacité de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et la microanalyse par rayons X dispersive d'énergie (EDXMA). Ce SEM offre également un choix de sept tensions d'accélération allant de 5 à 30 KV, permettant une large gamme d'applications d'imagerie. En outre, ce SEM dispose également d'une multitude de fonctionnalités analytiques avancées qui rendent l'imagerie et l'analyse plus rapides et plus faciles comme la technologie Série Modulogic, qui permet aux utilisateurs d'ajuster rapidement les paramètres du microscope pour améliorer les performances. Dans l'ensemble, JWS 7500E Scanning Electron Microscope est un instrument exceptionnellement puissant qui offre une imagerie haute résolution ainsi que des fonctionnalités d'analyse polyvalentes et puissantes. La machine à vide, les capacités d'imagerie et les caractéristiques analytiques de ce microscope électronique à balayage en font un excellent choix pour les industries de l'électronique, des sciences des matériaux et des sciences de la vie.