Occasion JEOL JWS 7505 #293594310 à vendre en France

JEOL JWS 7505 Scanning Electron Microscope (SEM) a une résolution de 3,2 nanomètres et un haut niveau de performance par rapport aux autres SEM. Il dispose d'un pistolet à émission de champ avancé (FEG) avec une chambre élargie, une structure de plaque de faisceau et un filtre d'énergie dans la colonne. Cela permet à l'utilisateur d'acquérir un grossissement et une profondeur de champ plus élevés, ce qui donne un niveau de détail plus élevé pour une image. JEOL JWS-7505 fournit également un large éventail de modes et de capacités d'observation, tels que la microscopie à balayage par tunnel (STM) ainsi que la manipulation et l'analyse in situ de spécimens avec des capacités de fonctionnement améliorées. Le système de détection équipé est configuré pour fournir une résolution d'image plus rapide, une meilleure fidélité et précision des images, une meilleure imagerie 3D et une manipulation in situ des échantillons, tout en optimisant l'environnement de la chambre. JWS 7505 a également une capacité de recherche et de couture de motifs rapides, permettant une acquisition d'image plus rapide et des enregistrements à plus haute résolution. Les modes d'imagerie de JWS-7505 comprennent l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie cathodoluminescente. Il est également équipé d'une variété de détecteurs pour l'imagerie, y compris un détecteur scintillateur pour l'analyse in situ, ainsi qu'un spectromètre dispersif d'énergie, un détecteur de diffraction rétrodiffusée des électrons (EBSD) et un filtre à énergie résolue en angle pour l'analyse de la composition. De plus, JEOL JWS 7505 dispose d'un étage de spécimen avec observation automatisée et rotation de l'échantillon. Il dispose également d'un flux d'image numérique utilisant une transmission à grande vitesse, permettant l'observation et l'analyse en temps réel. JEOL JWS-7505 est conçu de manière optimale pour fonctionner en salle blanche, c'est-à-dire qu'il peut être utilisé dans des conditions sans poussière ou autres polluants. JWS 7505 fournit aux utilisateurs une plate-forme fiable et facile à utiliser pour la microscopie électronique à balayage. Son imagerie haute résolution, haute vitesse et son interface utilisateur intuitive en font un outil idéal pour une variété d'applications de recherche. Son option d'entrée à faible coût, associée à ses excellentes performances, en font un excellent choix pour la microscopie électronique à balayage.