Occasion JEOL JWS 7505 #9000172 à vendre en France

JEOL JWS 7505 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie et une analyse à haute résolution. Il a une source de canon à émission de champ (FEG) avec une tension d'accélération jusqu'à 30 kV, et une grande distance de travail de 170 mm. De plus, la chambre d'échantillonnage est équipée d'un scanner à 4 axes et d'un contrôleur d'inclinaison d'étage. Le système de détection est composé d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), d'un détecteur de rayons X (EDX) et d'un détecteur d'électrons secondaire (SE). Le détecteur d'ESB a une haute résolution de 8 nm, une zone active de 15 x 15 mm et une acceptation angulaire de 15 degrés. Le système EDX a une résolution spectrale de 300eV et une tension d'accélération maximale de 15 keV. Le détecteur SE a une haute résolution de 8 nm. JEOL JWS-7505 est capable de produire des images de contraste élevé et des profils de surface 3D dans les directions latérale et verticale. Le SEM dispose également d'une fonction d'auto-alignement qui assure la précision des images et des mesures. La combinaison unique de capacités d'imagerie haute résolution et d'outils d'analyse fait de JWS 7505 un outil idéal pour la recherche, le développement et la production dans les domaines de la science des matériaux et de l'ingénierie. Avec ses images haute résolution et ses capacités de grossissement, JWS-7505 peut être utilisé pour analyser la structure et la composition des matériaux avec des détails étonnants. Il peut également être utilisé pour étudier la topographie de surface des matériaux, y compris les particules et les microstructures. Les capacités d'analyse et de quantification d'images de JEOL JWS 7505 permettent une caractérisation détaillée des matériaux et des surfaces, permettant une meilleure compréhension de leurs propriétés. En outre, JEOL JWS-7505 inclut des systèmes EDS et EBSD optionnels pour une analyse élémentaire plus poussée. En résumé, JWS 7505 SEM est un outil puissant et polyvalent pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des matériaux et des structures. Avec sa gamme de caractéristiques et de capacités, JWS-7505 est bien adapté pour la recherche, le développement et la production dans de nombreuses industries différentes.