Occasion JEOL JWS 7505 #9131751 à vendre en France

JEOL JWS 7505 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un faisceau focalisé d'électrons pour créer des images à haute résolution de la structure de surface ou de sous-surface d'un échantillon. Le 7505 est équipé d'un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) qui réduit la tension de pré-accélération et augmente les émissions secondaires pour l'imagerie optimisée. De plus, le 7505 peut être utilisé pour créer des reconstructions 3D en acquérant plusieurs tranches d'image SEM, augmentant la précision des mesures quantitatives et l'imagerie d'échantillons difficiles à images. Le SEM contient également un logiciel de pointe qui permet aux utilisateurs de contrôler toutes les fonctionnalités du microscope, comme ajuster la distance de travail et les objectifs du condenseur de focalisation, et de programmer des fonctions automatisées. La 7505 prend également en charge l'acquisition et l'analyse d'images, y compris les acquisitions rapides d'images et les mesures automatisées pour déterminer rapidement des paramètres tels que la tension d'accélération et le courant opérationnel pour une imagerie plus précise. La 7505 est équipée d'un étage motorisé à 5 axes constitué de 3 axes linéaires (X, Y, Z) et de 2 axes de rotation (inclinaison et rotation). L'axe de rotation peut être utilisé pour générer des images d'imagerie multi-paramètres (MPI), et l'axe d'inclinaison permet un contrôle précis des angles incidents. L'étage offre également un système actif de régulation de température pour les échantillons nécessitant des températures stables. La 7505 est également équipée d'une gamme de détecteurs d'imagerie qui délivrent des images de contraste élevé des échantillons. Ces détecteurs détectent les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires, les électrons réfléchis et leurs alliages, et les signaux rétrodiffusés. De plus, les détecteurs peuvent capter des informations chimiques et physiques de l'échantillon pour obtenir une image plus claire. Le 7505 contient également un détecteur de combinaison optionnel qui permet de détecter simultanément des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés. Enfin, la 7505 offre une série d'autres caractéristiques, telles qu'un inclinaison de 60 ° pour l'imagerie à angle élevé et des lentilles à pression variable pour obtenir des images dans des environnements à pression variable sans provoquer de distorsion. La 7505 offre également un large champ de vision, permettant une analyse d'échantillon plus large, et sa capacité de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) permet une analyse élémentaire en plus de l'imagerie. Cette combinaison de fonctionnalités fait de JEOL JWS-7505 un outil puissant et polyvalent pour l'imagerie et l'analyse.