Occasion JEOL JWS 7505 #9196807 à vendre en France

JEOL JWS 7505 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'imagerie complexe qui utilise des électrons pour créer des images tridimensionnelles haute résolution de divers types d'échantillons. Le 7505 SEM cherche à révolutionner l'imagerie, la caractérisation et l'analyse des matériaux à l'échelle nanométrique. Ce SEM innovant est conçu pour des images de précision dans une variété de conditions et peut accueillir une large gamme de tailles de spécimens de petite à grande. La 7505 dispose d'une colonne électronique numérique unique, canon à électrons asservi, et aberration corrigé haute performance polepieces pour assurer des performances améliorées. Ces caractéristiques améliorent la résolution pour atteindre 0,81 nm de résolution d'image. De plus, la 7505 est équipée d'une source d'énergie élevée et peut servir jusqu'à 6 détecteurs. Le système intégré de filtrage de l'énergie élimine tous les éléments recherchés des images, ce qui permet une meilleure clarté. Le système de grossissement numérique intégré peut accueillir n'importe quel type de spécimen, offrant une gamme allant de 7.5x à 8000x. Avec l'ajout de technologies nouvelles et révolutionnaires, la 7505 continue à fournir une imagerie supérieure et une résolution optimale avec un meilleur contrôle de la distorsion et les rapports signal/bruit et contraste les plus élevés. La 7505 offre également des fonctionnalités automatisées pour améliorer le workflow. Une puissante fonction de correspondance de motifs relie les informations acquises aux spectres correspondants et aide les utilisateurs à interpréter leurs données avec plus de précision. Est également inclus le mode Focus Hunt qui permet aux utilisateurs de capturer des spécimens difficiles à mettre au point en ajustant horizontalement et verticalement l'étape du spécimen. Enfin, la 7505 intègre le TSP™ révolutionnaire (Time Stack Processing) qui permet aux chercheurs d'obtenir des images 3D directement à partir des images SEM collectées. Cela élimine le besoin de systèmes STM ou AFM et fournit aux chercheurs une plate-forme tout-en-un pour l'imagerie et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Dans l'ensemble, JEOL 7505 Scanning Electron Microscope est un outil d'imagerie avancé qui fournit des images de haute qualité avec une résolution et un contraste améliorés, avec un flux de travail plus efficace et des fonctionnalités automatisées. Avec l'aide de la 7505, les chercheurs peuvent facilement s'attaquer avec confiance à certains des emplois d'imagerie les plus difficiles.