Occasion JEOL JWS 7505 #9278048 à vendre en France

ID: 9278048
Scanning Electron Microscope (SEM), parts system HP Series 700i PA-Risc computer (6) THERMO NORAN X-Ray spectrometers With C10018 Micro-analysis system Control console Power supply cabinet Manual included Power supply: 200 V, 40 A, 8 kVA, 3 Phase, 50/60 Hz.
JEOL JWS 7505 est un microscope électronique à balayage de haut de gamme (SEM). Avec sa haute résolution, sa compatibilité avec divers types d'échantillons et ses capacités d'imagerie avancées, il est l'instrument idéal pour de nombreuses applications industrielles et de recherche. En termes de composition physique, le modèle de base JEOL JWS-7505 est doté d'une colonne SEM à pression variable conçue pour l'ultra-stabilité, d'une source d'électrons à haute résolution, d'un changeur d'échantillon à 5 positions et d'une source d'électrons à champ Schottky de 9 pouces. De plus, le modèle est équipé d'une technologie ultra-large, d'unités modulaires de détection d'ions et d'une plaque de champ magnétique de haute stabilité pour le positionnement électronique. En termes de capacités analytiques, JWS 7505 est capable d'imagerie et de spectroscopie à haute résolution et à fort contraste, comme la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) et la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS). De même, il est capable de fonctions analytiques telles que l'imagerie automatisée, la cartographie élémentaire automatisée, la mesure automatisée et l'extraction de données post-processus automatisée. En outre, en termes de préparation d'échantillons, JWS-7505 est capable de diverses techniques traditionnelles de préparation d'échantillons, telles que le montage sous vide, le revêtement sous vide classique et le découpage en faisceau ionique co-focalisé cryo-fracture. Le faisceau d'électrons lui-même peut varier jusqu'à 1000 µm de largeur. De plus, il existe divers accessoires qui étendent ses capacités de préparation d'échantillons, tels qu'une étape de gravure à température contrôlée par l'azote liquide, une hotte et une boîte à gants à double colonne sous vide, et une étape de micropositionnement de précision. Dans l'ensemble, JEOL JWS 7505 est un microscope électronique à balayage incroyablement sophistiqué qui est capable de fournir des résultats de haute qualité à de nombreuses applications industrielles et de recherche. Sa combinaison de composition physique, de capacités analytiques et de capacités de préparation d'échantillons en fait l'un des SEM les plus recherchés sur le marché.
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