Occasion JEOL JWS 7515 #293628742 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit d'excellentes capacités d'imagerie détaillée et d'analyse. Il utilise un puissant canon à émission de champ combiné (CFE) et une colonne SEM basse tension pour donner un haut niveau de performance. En plus des capacités de base du microscope électronique à balayage, JEOL JWS-7515 offre une série de fonctionnalités avancées. Il est optimisé pour l'imagerie haute résolution et les capacités de grossissement élevées et dispose d'un équipement innovant de régulation de la température de pointe qui assure un fonctionnement stable dans un large éventail de conditions de fonctionnement. Le microscope dispose également d'un système nano-faisceau avancé qui permet l'imagerie ultra haute résolution et des capacités analytiques. JWS 7515 dispose également d'un détecteur de champ noir flexible qui permet une imagerie de haute qualité. Le détecteur permet des distances de travail ultra faibles qui permettent une meilleure observation et analyse des échantillons. De plus, le microscope possède une unité polyvalente de spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) avec une gamme dynamique élevée et une résolution spectrale qui fournit des données élémentaires précises. JWS-7515 comprend également un certain nombre d'accessoires qui améliorent encore ses performances. Le porte-échantillon 2D-Cryo et la machine d'échange de vide permettent une imagerie haute résolution à basse température et l'outil de balayage à la volée assure une imagerie continue sans interruption de la vitesse de balayage. Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 offre des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures grâce à ses fonctionnalités avancées. Sa tension d'accélération variable permet des images finement détaillées et l'actif EDS intégré donne une analyse élémentaire fiable. C'est un instrument fiable conçu pour fournir un aperçu détaillé d'une gamme d'échantillons.