Occasion JEOL JWS 7515 #293717495 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une source de filament de tungstène pour l'imagerie haute résolution. Il offre un grossissement allant jusqu'à 250.000x et a un champ de vision de 50nm pour des résultats d'imagerie impressionnants. JEOL JWS-7515 est équipé de deux collecteurs pour les électrons rétrodiffusés et les électrons secondaires et comprend à la fois des rayons X et des options de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS). Le microscope dispose également d'une capacité d'imagerie empilée automatisée, permettant aux utilisateurs d'effectuer rapidement plusieurs tâches d'imagerie et de spectroscopie à la fois. Cela permet un débit plus élevé et une analyse plus approfondie des échantillons. Avec une tension d'accélération 15kV, JWS 7515 peut imiter des échantillons isolants ainsi que des études en courant continu (DC) ou en radiofréquence (RF). Le SEM offre également une chambre de visualisation pour faciliter la manipulation et le positionnement des échantillons, ainsi qu'une option d'imagerie monochromatique pour le contrôle du contraste. Le microscope comprend à la fois une caméra de haut et de bas grossissement pour la surveillance pratique des spécimens. Ceci Est activé par JEOL SmartScan système d'auto-alignement pour ajuster rapidement le SEM au cours du processus d'imagerie. JWS-7515 a une chambre d'environnement avec une plage de température de -180C à + 130C, permettant la manipulation de température des échantillons. Ceci, combiné avec l'étage d'inclinaison de 45 degrés permet l'imagerie 3D des échantillons. Le logiciel associé dispose de capacités d'imagerie à faible dose pour maintenir l'intégrité des échantillons ainsi que de nombreux outils conviviaux de contrôle et d'acquisition et de gestion des données. JEOL JWS 7515 est adapté à diverses applications de recherche telles que les études micromécaniques, l'analyse des défaillances, la caractérisation biologique des échantillons, l'analyse des éléments de surface, et bien plus encore. La combinaison de fonctionnalités telles que l'imagerie haute résolution et la technologie à faible dose font du SEM un outil idéal pour l'imagerie et l'analyse de haute qualité.