Occasion JEOL JWS 7515 #293760157 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) idéal pour l'observation et l'analyse de divers échantillons provenant de la science des matériaux, des sciences physiques et de la biologie. Le microscope utilise un canon à électrons pour produire un faisceau d'électrons qui traverse une lentille de focalisation et est dirigé sur l'échantillon. Un détecteur d'imagerie capture alors les électrons réfléchis et crée une image de l'échantillon dans laquelle des particules individuelles peuvent être observées. De cette façon, le SEM peut être utilisé pour obtenir des images détaillées de la surface de l'échantillon, y compris sa morphologie (forme), sa composition élémentaire et même sa phase chimique. JEOL JWS-7515 dispose d'une gamme SEM basse tension de 2 à 15 kV et est capable d'obtenir un grossissement maximum de 100.000x. Il est équipé d'un canon d'émission de champ qui augmente la luminosité du faisceau, permettant l'observation à des grossissements plus élevés. La résolution d'image de ce microscope est remarquable, et il est capable de produire des images avec des caractéristiques sous-nanométriques qui mesurent jusqu'à 2 µm de taille. La chambre d'échantillonnage de JWS 7515 est équipée d'un étage à 4 axes qui supporte divers types de fixation d'échantillons tels que les talons d'épingle, les spécimens sur glissières et les pétris. L'étape d'inclinaison permet une manipulation de l'échantillon, permettant d'observer les caractéristiques de l'échantillon sous différents angles. Une variété de détecteurs sont disponibles pour le SEM, y compris des détecteurs de rétrodiffusion, des spectromètres à rayons X dispersifs d'énergie et des détecteurs d'électrons secondaires. Cela permet l'imagerie dans les modes SEM et X, ainsi que l'analyse approfondie des échantillons. JWS-7515 comprend également des fonctions automatisées telles qu'un système de commande de focalisation et de grossissement, un moniteur d'affichage vidéo et un panneau de commande de système à vide. Le microscope dispose d'une interface de contrôle conviviale qui permet un accès facile aux différentes fonctions de menu du SEM. JEOL JWS 7515 offre également des capacités avancées d'analyse d'image, y compris la détection des bords, des lignes et des cercles, des fonctions de luminosité et de contraste, l'analyse de la taille des particules et plus encore. En conclusion, JEOL JWS-7515 est un excellent microscope électronique à balayage pour une large gamme d'applications. Il offre un puissant grossissement et résolution, une capacité d'imagerie avancée et des fonctionnalités d'analyse étendues. Son système de contrôle convivial en fait un excellent choix pour n'importe quel laboratoire.