Occasion JEOL JWS 7515 #84046 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui dispose d'une source d'émission de champ magnétique et d'un filament de tungstène exceptionnel pour l'imagerie haute résolution jusqu'à 15 nanomètres. JEOL JWS-7515 dispose d'un équipement polyvalent avec un bras de manipulation intégré pour le chargement d'échantillons, un écran numérique à écran plat et un puissant logiciel intégré pour l'acquisition et l'analyse d'images. JWS 7515 a une grande taille de chambre de 25 cm sur 25 cm, ce qui permet un chargement d'échantillon flexible et fiable dans une grande variété d'applications. La conception à pression variable de JWS-7515 permet aux utilisateurs de contrôler la distance de travail et le courant du faisceau d'électrons, permettant une plus grande précision et résolution dans l'imagerie. JEOL JWS 7515 est capable d'imiter une gamme de topologies d'échantillons pour inclure des caractéristiques de surface et de matériau intérieur à haute résolution, des distributions élémentaires et des structures texturées ou cristallines. JEOL JWS-7515 possède également une technologie de pointe, y compris la détection d'électrons rétrodiffusés, d'électrons réfléchis et de rayons X ; et imagerie haute résolution. Le scanner dispose également d'un étage motorisé haute résolution pour un contrôle précis, des affichages numériques haute sensibilité et une automatisation complète du processus d'imagerie. JWS 7515 peut être connecté à un PC ou une station de travail pour une analyse puissante, la gestion des données et le fonctionnement automatisé du système. JWS-7515 peuvent être utilisés à la fois dans les modes de vide inférieur et supérieur afin d'obtenir des résultats très précis et pertinents pour toute une gamme d'applications. Il a une ultra haute résolution de 15 nanomètres, et sa vitesse de balayage est supérieure à celle fournie par les SEM les plus compétitifs, ce qui en fait un choix idéal pour les utilisateurs qui ont besoin d'une unité d'imagerie approfondie et précise. En outre, JEOL JWS 7515 peut être programmé pour optimiser automatiquement les paramètres de l'image selon l'application souhaitée. Dans l'ensemble, JEOL JWS-7515 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre à l'utilisateur flexibilité et contrôle de l'imagerie. Il est bien adapté aux applications impliquant l'imagerie à l'échelle nanométrique et la résolution exacte et dispose de fonctions d'imagerie automatisées avec un haut niveau de précision. Sa grande taille de chambre et sa polyvalence fournissent aux utilisateurs une machine d'imagerie fiable pour produire des images haute résolution dans un large éventail d'applications.