Occasion JEOL JWS 7515 #9220978 à vendre en France

JEOL JWS 7515
ID: 9220978
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 est un outil d'analyse très avancé conçu pour mesurer la composition structurale et élémentaire avec un pouvoir de résolution extraordinaire. Il utilise des faisceaux d'électrons générés à partir d'un canon à électrons en tungstène pour obtenir des images très détaillées d'objets microscopiques. La capacité d'imagerie haute résolution de cet instrument est précieuse pour un large éventail de recherches, y compris l'analyse des matériaux, la structure biomoléculaire et la composition chimique. Le microscope électronique à balayage JEOL JWS-7515 offre une combinaison unique de haute luminosité, grand champ de vision et haut grossissement. Sa source de faisceau d'électrons haute énergie est capable de grossissement jusqu'à 3000x, fournissant une imagerie de précision jusqu'à l'échelle du nanomètre. Ce puissant microscope présente également une large gamme dynamique de champ de vision, permettant d'étudier en détail une grande zone d'analyse. En outre, il fournit une large gamme de capacités analytiques avancées comme la spectroscopie X dispersive d'énergie, la diffraction de rétrodiffusion électronique, le profilage de profondeur et l'imagerie chimique. Le microscope électronique à balayage JWS 7515 est équipé d'un équipement de contrôle automatique de focalisation qui assure des conditions d'imagerie optimales. Ce système combine un réglage de focale commandé par ordinateur avec un contrôleur de commande de scène qui permet un balayage précis et précis des échantillons. De plus, une combinaison de systèmes de détection d'objectif et de rétrodiffusion optimise la qualité d'imagerie pour une grande variété d'échantillons, y compris ceux de matériaux métalliques. JWS-7515 microscope électronique à balayage dispose également d'une unité d'analyse élémentaire intégrée qui permet l'analyse compositionnelle des échantillons avec une grande précision. En outre, il peut être utilisé pour analyser les niveaux de contamination dans les échantillons et pour détecter la présence de défauts subtils de surface. Enfin, la machine dispose également d'une variété d'outils logiciels pour faciliter l'analyse d'images et la documentation des échantillons. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 est un instrument polyvalent, fiable et efficace idéal pour un large éventail d'applications de recherche. Sa résolution impressionnante et ses puissantes capacités analytiques offrent des performances inégalées aux chercheurs sur le terrain.
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