Occasion JEOL JWS 7515 #9249356 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui permet l'imagerie de précision de grands échantillons. Avec ses fonctionnalités d'imagerie avancées et ses capacités d'analyse très précises, il est un instrument idéal pour une large gamme d'applications d'imagerie. JEOL JWS-7515 dispose d'un nouvel équipement de détection de performance ultra-bas bruit de 15 nanomètres, offrant des résultats d'imagerie fiables avec un faible bruit. Cela aide à réduire la présence de décoloration sur les images SEM, et permet une capture d'image plus rapide. Il dispose également d'un étage d'échantillonnage 5 axes pour l'imagerie optimale de grands échantillons, avec la capacité de basculer et de faire tourner l'échantillon pendant le processus d'imagerie pour le plus grand détail possible. JWS 7515 comprend également des capacités de détection et de focalisation automatisées pour les résultats d'analyse de précision. Son système de contrôle automatisé de l'environnement des échantillons (SEM-CON) convivial permet de développer des méthodes précises et reproductibles facilement et rapidement. Il dispose également d'une unité optique améliorée pour une stabilité accrue des échantillons et une meilleure sensibilité à l'imagerie. En outre, JWS-7515 dispose également de capacités avancées d'analyse de données. Avec son logiciel d'application dédié, les utilisateurs peuvent analyser la composition élémentaire, la morphologie de l'image et la taille des grains à partir des données acquises. Il dispose également d'une machine d'analyse des particules qui permet une analyse précise des particules individuelles jusqu'à l'échelle du nanomètre. Dans l'ensemble, JEOL JWS 7515 offre une solution polyvalente et fiable aux besoins d'imagerie. Avec son outil de détection avancé, ses capacités automatisées de précision et de reproductibilité et ses capacités d'analyse de données robustes, il est un instrument idéal pour permettre une imagerie de haut niveau et une analyse précise pour un large éventail de processus.