Occasion JEOL JWS 7515 #9256119 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 est un puissant outil d'imagerie et d'analyse d'échantillons à l'échelle du nanomètre. Il combine des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution dans une seule plate-forme d'équipement. L'équipement dispose d'une tension d'accélération jusqu'à 30 kV pour une résolution améliorée et une capacité de détection basse tension pour les échantillons sensibles. Ce microscope électronique à balayage est équipé du système EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) d'EDAX qui permet une identification élémentaire supérieure. Le détecteur est couplé physiquement et numériquement avec JEOL SEM pour fournir la flexibilité de l'opérateur et la facilité de contrôle de la vue. Le microscope électronique à balayage JEOL JWS-7515 offre une interface efficace et facile à utiliser, avec un écran tactile et des fonctions de contrôle intuitives. Il fournit une gamme complète de modes d'imagerie, y compris SEI, SE2 (électrons secondaires), ESB (électrons rétrodiffusés), BSED (diffraction électronique rétrodiffusée), EDS (spectroscopie analytique à rayons X à dispersion énergétique), EBSD (diffraction électronique à rétrodiffusion), EFTM (spectroscopie électronique) Le microscope électronique à balayage JWS 7515 est conçu pour un large éventail de matériaux tels que biomatériaux, polymères, métaux, alliages, céramiques, verres, etc. Ce SEM polyvalent offre à la fois une imagerie haute résolution et une analyse élémentaire quantitative avec un détecteur de rayons X. Les mesures peuvent être effectuées rapidement et avec précision dans les matériaux conducteurs et non conducteurs. JWS-7515 microscope électronique à balayage transmet une unité de positionnement de haute précision, avec répétabilité au niveau du nanomètre, permettant une navigation rapide et précise de l'échantillon. Le blindage diélectrique élevé permet de réduire l'artefact de charge de l'échantillon et d'appliquer une tension optimale, un courant de faisceau et une émission optimale. Il fournit également l'acquisition et l'analyse de données à grande vitesse avec une large gamme de logiciels intégrés, permettant aux opérateurs d'évaluer rapidement et avec précision les images et les données du SEM. En outre, le logiciel offre une gamme d'outils d'analyse d'image conviviaux et de modules d'application spécialisés, tels que FEG-STEM Analyzer, Automation et comparaison CAO. Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 7515 fournit une machine d'imagerie et d'analyse fiable avec une grande précision et répétabilité. C'est un outil fiable pour l'industrie, la recherche et les milieux universitaires. Ce SEM est un outil puissant pour l'étude de la science des matériaux et offre un large éventail de capacités d'imagerie.