Occasion JEOL JWS 7515 #9399595 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Il est conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une analyse détaillée de divers échantillons, y compris des échantillons biologiques et inorganiques. Le microscope dispose d'un pistolet à émission de champ qui offre des performances et une stabilité supérieures lorsqu'il est utilisé avec un haut degré de grossissement. Le pistolet produit également un détecteur d'électrons secondaire à haute sensibilité, permettant une imagerie détaillée dans les environnements à vide faible et élevé. En outre, JEOL JWS-7515 est équipé d'un équipement à pression variable unique qui permet à l'utilisateur de régler la pression de la chambre sans modifier radicalement la résolution de l'image. JWS 7515 fournit une large gamme de capacités d'imagerie et d'analyse, telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), l'imagerie par corrosion, l'imagerie cathodoluminescente, la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la cathodoluminescence à faisceau dirigé. L'imagerie de l'ESB permet à l'utilisateur de distinguer différents éléments de l'échantillon, tandis que l'imagerie de corrosion peut montrer la présence de corrosion sur un échantillon. L'imagerie cathodoluminescente est utilisée pour analyser les échantillons émis par un faisceau d'électrons, tandis que l'EDS peut être utilisée pour déterminer la composition de l'échantillon. La cathodoluminescence à faisceau dirigé du microscope est particulièrement utile pour l'imagerie d'échantillons qui ont une forte teneur en matière organique. JWS-7515 comprend également un détecteur d'électrons secondaire qui peut être utilisé pour acquérir des images à haute résolution de la structure de surface du matériau et pour détecter la topographie de surface. Le réglage à faible vide du microscope fournit une imagerie supérieure sans sacrifier la résolution, tandis que son réglage à haut vide permet l'imagerie en ultra-haut grossissement. Le microscope comprend également un système de navigation dans les lentilles pour permettre aux utilisateurs de contrôler facilement le champ de vision du microscope. En outre, JEOL JWS 7515 comprend un large éventail de logiciels, tels que l'unité EasyScan 3 et une plate-forme logicielle open source, afin de fournir aux utilisateurs de nombreuses options de post-traitement de leurs images. En résumé, JEOL JWS-7515 est un microscope électronique à balayage sophistiqué conçu pour fournir une imagerie supérieure et l'analyse détaillée d'une variété d'échantillons. Le microscope est équipé d'un canon à émission de champ, d'un détecteur d'électrons secondaire et d'une machine à pression variable, permettant aux utilisateurs d'imiter avec précision divers types d'échantillons. En outre, JWS 7515 comprend une large gamme de logiciels pour le post-traitement d'images, ce qui en fait un excellent choix pour les utilisateurs à la recherche d'un SEM de haute qualité.