Occasion JEOL JWS 7515 #9412229 à vendre en France

JEOL JWS 7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui combine une haute résolution avec une excellente profondeur de champ. Sa conception est basée sur la série éprouvée JEOL JMS de SEM qui présentent une planéité d'échantillon de scène fine de meilleure que 1,7 mm. JEOL JWS-7515 maximise la résolution et le contraste d'image en utilisant un canon à émission de champ froid (FEG) et un détecteur d'image numérique. Il offre une imagerie haute vitesse avec un taux de trames vivantes jusqu'à 200 images par seconde. JWS 7515 est un SEM à vide moyen, c'est-à-dire qu'il fonctionne à une plage de pression de vide secondaire moyen à primaire élevé. Dans ce type d'environnement, les électrons peuvent circuler facilement et avec peu de collisions. Cela crée une image haute résolution avec une bonne profondeur de champ, car les électrons émis par la FEG sont accélérés à travers l'objectif et vers l'échantillon sur la scène. L'objectif de JWS-7515 peut être ajusté pour obtenir des images claires sur une gamme de grossissements de 5x à 300kx. JEOL JWS 7515 comprend un équipement de purge des gaz et des contrôles automatisés des étages. Cela permet à l'utilisateur de régler la position de l'échantillon et de localiser précisément les éléments d'intérêt. Les conditions de vide peuvent être maintenues même pendant le fonctionnement manuel de l'étage à travers le système de purge des gaz. L'unité de purge des gaz empêche également les contaminants de pénétrer dans l'espace vide du SEM. JEOL JWS-7515 a plusieurs fonctionnalités pour améliorer l'imagerie dans le SEM. Il s'agit notamment de l'imagerie numérique contrastée et colorée, du moniteur de courant de faisceau (BCM) et de l'imagerie backside automatisée (ABi). Le mode d'imagerie numérique contraste et couleur améliore la clarté et le contraste des échantillons de faible signal, tandis que BCM aide à maintenir des conditions d'imagerie cohérentes. Grâce à ABi, les utilisateurs peuvent représenter et mesurer les caractéristiques au verso d'un échantillon, ainsi que les formes et la morphologie de surface des deux côtés. JWS 7515 est un excellent choix pour de nombreuses applications SEM grâce à sa haute résolution et sa profondeur de champ. Il dispose d'une gamme de fonctionnalités et d'utilitaires pour améliorer la qualité et la précision de l'imagerie. Sa machine de purge des gaz et ses commandes automatisées par étages la rendent idéale pour des applications exigeantes. Avec sa vitesse de trame élevée, JWS-7515 peut prendre des images détaillées rapidement.