Occasion JEOL JWS 7550 #137194 à vendre en France

JEOL JWS 7550 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé pour visualiser des objets à l'échelle nanométrique. Il est équipé d'un système d'imagerie à résolution de 3,2 nanomètres qui fournit des images à haute résolution de divers types d'échantillons. Il est capable de fonctionner soit en mode basse énergie, soit en mode haute énergie selon le type d'échantillon observé. Le système est accessible par une interface logicielle conviviale. Cette interface intuitive permet un fonctionnement rapide des échantillons et des procédures de réglage. Le logiciel peut également être utilisé pour créer des images détaillées de surfaces d'échantillons, permettant une analyse précise. En outre, une gamme d'autres fonctions d'analyse sont disponibles comme la cartographie élémentaire, le balayage de profil de ligne, l'analyse des rayons X et l'imagerie par rétrodiffusion électronique. JWS 7550 fournit une plate-forme facile à utiliser pour l'analyse rapide des échantillons qui nécessitent des détails et des analyses complexes. En termes de conception, JEOL JWS 7550 se compose d'un ensemble colonne, base et canon. La base est réalisée à partir d'un cadre en aluminium moulé avec une finition anodisée pour la durabilité et la facilité de nettoyage. La colonne est construite à partir d'un alliage d'aluminium usiné avec une conception rigide pour des performances fiables. L'ensemble du canon se compose d'un canon à électrons, d'une source d'électrons et de substrats d'échantillons pour l'observation. Un diaphragme de capacité est également installé pour filtrer et isoler le faisceau d'électrons. La JWS 7550 est conçue pour être sans entretien et soumise à des tests d'auto-performance afin de s'assurer que chaque unité fonctionne de façon optimale. En outre, une gamme complète d'accessoires est disponible pour faciliter la préparation et l'analyse des échantillons. La grande variété de techniques d'imagerie fait de ce SEM un choix idéal pour une variété de besoins de recherche. JEOL JWS 7550 est un puissant outil d'imagerie qui fournit un aperçu inestimable des structures et des propriétés des particules nanométriques. Sa capacité à produire une résolution comparable aux autres SEM tout en fournissant aux utilisateurs une interface intuitive en fait un excellent choix pour une variété d'applications de recherche.