Occasion JEOL JWS 7550 #9028224 à vendre en France

JEOL JWS 7550
ID: 9028224
Wafer inspection Scanning Electron Microscope (SEM), parts system.
JEOL JWS 7550 est un microscope électronique à balayage (SEM) pour l'imagerie haute résolution et l'analyse analytique des matériaux. C'est un type de microscope électronique qui utilise un faisceau d'électrons pour produire des images amplifiées d'un échantillon. Le JWS 7550 est un SEM à tension intermédiaire doté d'un canon à émission de champ doté d'une optique électronique dédiée. Cette combinaison de technologie fournit une imagerie ultra haute résolution à des grossissements élevés pour produire des images détaillées de la microstructure d'un matériau. Le JEOL JWS 7550 est doté d'un système électronique avec rétroaction numérique pour une résolution et un contraste améliorés. Il dispose d'un détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX) pour l'analyse élémentaire des échantillons, et d'un champ de vision complet de 150 mm à une distance de travail de 28 mm. Cela permet un large champ de vision et un espace généreux pour les spécimens à placer pendant l'imagerie. JWS 7550 offre une excellente résolution d'image de 1,7 nm tout en fonctionnant à une tension d'accélération de 1-30 kV. Il dispose d'une chambre à ultra-haut vide (UHV) qui permet des modes d'imagerie à bas vide, contribuant à réduire le risque de contamination d'un échantillon pendant l'analyse. Le SEM utilise un entraînement à colonne électrique de haute précision pour un déplacement précis et sans vibration de l'étage d'échantillonnage. Ceci réduit considérablement les aberrations lors de l'acquisition d'image. Il intègre également la technologie de filtrage de l'énergie, qui permet une augmentation du rapport signal/bruit produisant ainsi des images de meilleure qualité. De plus, JEOL JWS 7550 utilise le dernier mécanisme de déblocage d'images (IDM) pour utiliser des informations sur les faisceaux incidents afin de réduire le flou causé par les variations spatiales des composés moyens-rares. Le système est équipé de coutures automatiques d'images de navigation, lui permettant de capturer tout un champ de vue spécimen dans une seule image haute résolution. JWS 7550 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent conçu pour la recherche industrielle et universitaire. Combinant un canon à émission de champ haute résolution, des capacités EDX, un mécanisme d'entraînement complet et la dernière IDM pour le débriefing d'images, JEOL JWS 7550 offre des capacités d'analyse avancées pour une variété de types de spécimens.
Il n'y a pas encore de critiques