Occasion JEOL JWS 7555 #293758236 à vendre en France

JEOL JWS 7555 est un microscope électronique à balayage (SEM) pour la recherche et les applications industrielles. Le microscope combine des fonctions d'imagerie haute résolution et d'analyse avancée pour une large gamme d'applications SEM. Il dispose d'un équipement d'ultra-haute dépression permettant l'imagerie d'échantillons délicats, ainsi que d'une large gamme de détecteurs et d'accessoires pour des conditions d'imagerie idéales. JWS 7555 utilise une structure SEM à pression variable (VP-SEM) pour offrir une flexibilité, avec une plage de pression de la chambre d'observation de 0,1 à 400 Pa. Le VP-SEM permet une imagerie stable à pression relativement élevée, ce qui aide à prévenir la distorsion de l'image due à la charge. Une lentille oculaire à champ ultra-large (UWF) est incluse pour fournir une image claire et large de l'échantillon, tandis que le système avancé d'amortissement des vibrations d'étage fournit des images stables. Le microscope est également équipé d'une gamme de détecteurs et d'accessoires tels que SE, ESB, détecteur de portée et CCD. JEOL JWS 7555 est compatible avec la cartographie automatique et les systèmes d'analyse aux rayons X, permettant une analyse facile des échantillons. Une technologie avancée de traitement d'image comprend Pixel-By-Pixel Analysis pour mesurer la précision de la zone et de la position des bords, ainsi que des filtres d'image pour la manipulation et l'analyse d'image avancée. Pour la préparation des échantillons, JWS 7555 comprend un alimentateur automatisé d'échantillons, une unité de séchage automatisé d'échantillons et une machine de chauffage flash au CO2 intégrée. Un support de diamètre d'échantillon avec une tension d'accélération de pointe jusqu'à 45kV fournit un environnement d'imagerie à faible frottement et haute résolution adapté à l'analyse électrique. Un outil d'alignement automatique intégré de canon SEM pour le réglage d'inclinaison de haute précision et la répétabilité du détecteur est également inclus. L'ensemble de l'actif est contrôlé via un panneau matériel et un contrôleur PC basé sur Windows, qui fournit une interface utilisateur haute fonction et des performances de haut niveau. Le microscope est fréquemment utilisé dans les domaines de la science des matériaux et des sciences de la vie, ainsi que de l'inspection industrielle et du contrôle de la qualité. Il est conçu pour répondre à un large éventail de besoins d'imagerie et d'analyse.