Occasion JEOL JWS 7555 #293791443 à vendre en France

JEOL JWS 7555 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil polyvalent haut de gamme conçu pour atteindre un haut niveau de performance dans une variété d'applications de recherche et industrielles. Le 7555 est équipé d'un équipement de microanalyse à rayons X dispersifs d'énergie (EDX), lui permettant d'identifier et d'analyser la composition élémentaire des échantillons jusqu'à une résolution de sous microns. Le SEM dispose également de modes de fonctionnement à pression variable et dans l'environnement, permettant à l'utilisateur d'observer et d'analyser des matériaux biologiques, géologiques et autres dans divers contextes. Les capacités d'imagerie haute résolution de la 7555 sont impressionnantes, l'unité obtenant une résolution inférieure à 0,5 nm, à une tension d'accélération de 15 keV. Il offre également un large champ de vision et une grande profondeur de champ de sorte que plusieurs couches d'un échantillon peuvent être observées et analysées. Le grossissement maximal est de 150 000 fois et il offre un système de correction de dérive pour l'imagerie stable. Il supporte également plusieurs dispositifs de commande, dont une caméra numérique, un microscope à faisceau d'électrons et une chambre à vide. La puissante unité EDX permet au 7555 d'exciter et de détecter les rayons X provenant d'échantillons d'un diamètre aussi petit que 50 nm. Il est équipé d'une machine de filtrage d'énergie pour améliorer la qualité des rayons X et dispose d'un détecteur avec une large gamme dynamique, lui permettant d'analyser une large gamme d'éléments. Il possède des capacités d'analyse tant qualitatives que quantitatives, lui permettant d'identifier des éléments dans un échantillon ainsi que d'afficher la concentration relative desdits éléments. Le 7555 est également très convivial, avec des commandes intuitives et une interface graphique riche en fonctionnalités. L'utilisateur peut enregistrer et rappeler des images, automatiser leurs processus et effectuer des opérations d'écran. Il dispose également de fonctions de sécurité bien intégrées, telles que des interconnexions intégrées et des informations d'état en temps réel. Avec sa gamme exceptionnelle de caractéristiques, le microscope électronique à balayage JWS 7555 est un choix idéal pour un certain nombre d'applications industrielles et de recherche.