Occasion JEOL JWS 7555 #9298946 à vendre en France

JEOL JWS 7555 est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de surfaces et de structures. Le microscope dispose d'une précision point à point de résolution de 5nm, lui permettant de réaliser des images détaillées de caractéristiques de 20 nanomètres de taille ou plus. La colonne est optimisée pour une faible accélération et des émissions de champ afin d'assurer des performances et une résolution maximales. JWS 7555 est équipé d'un détecteur d'électrons ultra-rapides à haute sensibilité spécialisé qui augmente les rapports signal à bruit et permet de prendre des images ultra-petites à des niveaux extrêmement bas d'éclairage électronique. La colonne a également une tension de fonctionnement réglable, permettant aux opérateurs d'ajuster les paramètres de fonctionnement sans changer les paramètres physiques du SEM. Le microscope dispose d'un pipeline avancé de post-traitement, permettant aux utilisateurs d'analyser et de modifier les résultats de leurs images, d'augmenter la précision et même de permettre des images et des mesures en 3 dimensions. En outre, le SEM dispose également d'interactions automatisées pour accélérer les tâches d'acquisition de données, ainsi que d'une interface conviviale améliorée. JEOL JWS 7555 est optimisé pour toute une gamme d'applications, y compris l'analyse systématique des défaillances et des défauts, l'électronique, l'ingénierie des appareils médicaux et diverses nanostructures. Sa capacité de haute résolution et les paramètres réglables du faisceau d'électrons permettent une large gamme de mesures, y compris l'analyse de surface et de masse, la cartographie élémentaire, l'imagerie haute résolution et la caractérisation signal/bruit. Par conséquent, JWS 7555 est l'outil idéal pour l'analyse détaillée des défaillances, l'isolement des défauts et la caractérisation physique. JEOL JWS 7555 est l'ajout parfait à tout laboratoire ou environnement de production qui a besoin d'un SEM avancé et fiable. L'interface utilisateur intuitive et les applications polyvalentes en font un outil parfait pour analyser rapidement et précisément n'importe quelle surface ou structure et fournir les résultats exactement au besoin. Par conséquent, une analyse efficace et précise peut être effectuée rapidement et facilement.