Occasion JEOL JWS 7555 #9390726 à vendre en France

JEOL JWS 7555 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé dans un large éventail d'industries et d'installations de recherche. Ce microscope puissant est idéal pour l'imagerie et l'analyse des caractéristiques à la résolution nanométrique. Avec son large spectre de capacités d'imagerie, JWS 7555 peut être utilisé pour observer de petits objets ou structures tels que les cellules, les métaux, l'électronique et les matériaux semi-conducteurs avec une précision sans précédent. JEOL JWS 7555 est un instrument multi-mode qui offre une variété de modes d'imagerie, permettant un haut degré de polyvalence et de précision en matière de capture d'image. Ce microscope dispose d'un détecteur d'électrons secondaire dans la lentille et d'un canon à émission de champ froid pour une imagerie plus précise que de nombreux autres modèles sur le marché. Il offre également un équipement d'imagerie électronique secondaire utilisant un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour fournir un plus grand contraste dans les images. Le microscope dispose d'un système automatisé d'acquisition de vide et d'une chambre intégrée refroidie par le gaz qui aident à maintenir une meilleure intégrité du vide pendant l'imagerie et empêchent la condensation de se former sur l'échantillon. Les capacités d'imagerie haute résolution de JWS 7555 sont encore améliorées par l'intégration de plusieurs technologies d'imagerie de pointe. Les capacités d'analyse compositionnelle à haute résolution sont fournies par une unité d'analyse des rayons X à dispersion d'énergie microsillon. Cette machine est capable d'analyser la composition élémentaire de l'échantillon à résolution spatiale nanométrique. Un outil de traitement d'image numérique embarqué est utilisé pour nettoyer le bruit sur les images capturées, fournissant des résultats d'imagerie et d'analyse plus précis. JEOL JWS 7555 est un atout complet et convivial qui est bien adapté à une variété d'applications scientifiques. C'est également une solution fiable pour la recherche et les applications industrielles, fournissant des images fiables et des données d'analyse qui peuvent être utilisées à diverses fins.