Occasion JEOL JWS 7555S #293628489 à vendre en France

JEOL JWS 7555S est un microscope électronique à balayage polyvalent à haute performance (SEM) conçu pour une gamme d'applications analytiques. Ce modèle avancé est conçu pour l'imagerie optimisée, la microanalyse élémentaire et les capacités de lithographie de faisceau. JEOL JWS-7555S offre une navigation robotique et une optique contrôlée par la navigation, ouvrant la voie à des améliorations significatives de la qualité de l'imagerie et de l'expérience utilisateur. Disponible avec étage automatisé et colonne motorisée, JWS 7555 S permet des mesures automatisées telles que les réglages de focalisation et le mouvement de l'étage. Les performances robustes et les capacités avancées de JWS 7555S donnent aux utilisateurs la liberté d'effectuer un large éventail de tâches avec la plus grande précision, y compris l'analyse de particules, le balayage de ligne, l'analyse chimique, l'imagerie, les études de structures et plus encore. JEOL JWS 7555 S est capable d'effectuer l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'analyse élémentaire EDS, ainsi que d'autres analyses connexes diverses. JWS-7555S est capable d'imagerie haute résolution, offrant une imagerie ultra haute résolution au niveau de 8 nm avec un point de vue spécial double côté détecteur. Son monochromateur intégré permet également une imagerie à plus haute résolution en éléments légers et lourds. JEOL JWS 7555S offre également un large champ de vision (FOV), qui permet à l'utilisateur d'observer un plus large éventail de détails dans les échantillons. En outre, le microscope peut également obtenir une plus grande profondeur de champ (DOF) pour l'imagerie 3D haute résolution, ainsi qu'un meilleur contraste pour une analyse d'image plus précise. JEOL JWS-7555S est livré avec un logiciel de pointe qui fournit des analyses automatisées, le calcul des profils de pointe en secondes. Il offre également une gamme de fonctionnalités automatisées, telles que l'imagerie SEM automatisée, la collecte de données et l'analyse automatisée. La JWS 7555 S dispose également d'une chambre à faible vide (LV) innovante, permettant aux utilisateurs d'observer et d'analyser des échantillons dans un large éventail de conditions, de la basse à la haute dépression. JWS 7555S propose également une gamme de détecteurs pour diverses applications, tels que les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (ESB), les rayons X, les photoélectrons ultraviolets (UVP), la spectroscopie à rayons X, les systèmes EELS et les systèmes de diffraction à rétrodiffusion électronique (EBSd). Dans l'ensemble, JEOL JWS 7555 S est un microscope électronique à balayage à haute performance qui offre aux utilisateurs une gamme de fonctionnalités, des capacités puissantes et une expérience utilisateur exceptionnelle. Ce SEM est un choix idéal pour les scientifiques et les ingénieurs qui ont besoin d'un instrument avancé qui offre une imagerie haute résolution, des capacités analytiques sophistiquées et une gamme de fonctionnalités automatisées.