Occasion JEOL JWS 7555S #293761147 à vendre en France

ID: 293761147
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8" 2000 vintage.
JEOL JWS 7555S est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) idéal pour la surveillance des échantillons, l'inspection des défauts et l'éducation dans les domaines de la science des matériaux, des sciences de la vie et de la recherche sur les semi-conducteurs. Cet outil fournit une imagerie haute résolution, avec une résolution de 0,2 nanomètres dans les électrons secondaires, ainsi qu'un large champ de vision de jusqu'à 13mm de diamètre. Le SEM fonctionne comme un puissant détecteur d'électrons secondaires dans la lentille en plus de sa capacité typique de balayage et d'imagerie. Ses principales caractéristiques comprennent une chambre complète de préparation d'échantillons. JEOL JWS-7555S présente une foule de méthodes de préparation d'échantillons, telles que la pulvérisation à l'argon, le revêtement au carbone, les traitements thermiques et la manipulation des niveaux de vide. Ces caractéristiques permettent la préparation d'un large éventail d'échantillons. En outre, son équipement d'analyse fournit beaucoup plus de détails que les microscopes optiques traditionnels. Le système analytique comprend la spectroscopie dispersive d'énergie, la cathodoluminescence et l'analyse de l'éternité. La JWS 7555 S dispose également d'une unité d'étage automatisée. Cela permet un exemple de mouvement sans contact dans son mouvement en boucle fermée à 3 axes. La scène est également équipée d'une fonction auto-focus qui peut ajuster finement le focus sans aucune intervention manuelle. Une machine automatisée de détection de planéité minimise les distorsions optiques de l'image lors de l'imagerie. La stabilité de l'outil est exceptionnelle. JEOL JWS 7555 S fournit un contrôle sans vibration des spectres sonores pour minimiser les effets des effets environnementaux sur les données. Cela permet de minimiser les déplacements dans la position du faisceau d'électrons. De plus, l'outil comprend des dispositifs d'évitement de collision qui réduisent les risques de collision entre les échantillons et le faisceau d'électrons. En conclusion, JWS 7555S est un microscope électronique à balayage haute performance qui fournit une résolution et des capacités exceptionnelles. Ses vastes chambres de préparation d'échantillons et son atout automatisé fournissent des détails et une précision sans précédent et en font un choix idéal pour une recherche de haut niveau.
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