Occasion JEOL JWS 7555S #293771161 à vendre en France

JEOL JWS 7555S est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) de premier plan conçu pour rendre des images d'un détail et d'une qualité inégalés. Son système de vide modulaire haute fréquence permet un fonctionnement stable et excelle dans le domaine du balayage nanométrique. Avec sa haute tension d'accélération allant jusqu'à 300kV, JEOL JWS-7555S a la capacité de révéler des topographies nano-échelle, ainsi que la composition élémentaire et chimique de l'échantillon. L'optique intégrée optimisée de la JWS 7555 S garantit une performance optique et une résolution maximales. Son détecteur d'électrons rétrodiffusés unique offre une excellente résolution de profondeur et un faible bruit, ainsi qu'une qualité d'image exceptionnelle. L'utilisation de deux détecteurs de mini-boom, l'un monté près de l'étage de microscope, permet l'observation simultanée d'images monochromes, à trois étages et de champ lumineux. De plus, son nouveau détecteur SE double de forme offrira une excellente capacité d'imagerie SE pour l'observation de kV bas. JWS 7555S offre une grande flexibilité, avec un choix d'options d'ultra-haute dépression ou basse pression. Sa conception avancée de ponts contribue à sa stabilité supérieure et à sa capacité de charge, ce qui en fait un outil fiable pour la fabrication de nanomatériaux, la lithographie et la recherche en nanotechnologie. Le système inclut un plein complément de logiciel sophistiqué pour le balayage de 3D/4D, l'analyse automatisée et la quantification. L'interface utilisateur intuitive et facile à utiliser facilite un travail efficace, même par des utilisateurs inexpérimentés. JEOL JWS 7555 S est le meilleur SEM disponible, offrant une excellente performance et valeur à la communauté de la recherche et de l'industrie. Ses capacités d'imagerie avancées et son excellente interface utilisateur en font un choix supérieur pour toute application au microscope électronique, de la microfabrication aux études de résolution de sous-microns.