Occasion JEOL JWS 8000Z #293621075 à vendre en France

JEOL JWS 8000Z est un microscope électronique à balayage de haute précision (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse fiables et performantes de surfaces de matériaux et de structures sous-superficielles. C'est un instrument à double faisceau SEM/faisceau ionique focalisé (FIB), qui permet l'imagerie simultanée et la fabrication de nanostructures. Le 8000Z dispose d'un canon à émission de champ froid ultra haute résolution (CFEM), qui délivre un faisceau de tungstène de haute qualité avec un potentiel d'accélération maximal de 1,6 kV et un bruit de courant de faible faisceau et obtient une résolution supérieure, une profondeur de champ et un fonctionnement à faible charge. Le 8000Z est équipé d'un détecteur de rétrodiffusion à contraste élevé et d'un détecteur d'électrons secondaire combiné dans la lentille et d'un détecteur de rétrodiffusion traditionnel pour fournir des compositions précises et des informations structurelles avec une sensibilité ultra élevée. Il dispose également d'une chambre à pression variable (VP) pour analyser les matériaux insensibles qui nécessitent une faible tension d'accélération. Le 8000Z possède également des fonctions d'automatisation d'échantillons, permettant la préparation, l'imagerie et l'analyse automatisées d'échantillons à l'aide d'un étage à moteur à plusieurs étages. Le 8000Z dispose également d'un détecteur segmenté Everhart-Thornley à bord, permettant à l'utilisateur d'effectuer une analyse des rayons X dispersifs d'énergie (EDX) avec une résolution supérieure. La fonction de cartographie élémentaire automatisée WDS permet également la mesure microanalytique de la composition des échantillons. Le 8000Z dispose d'une interface graphique conviviale avec un écran tactile et un logiciel avancé qui permet un fonctionnement puissant et facile et une télécommande basée sur le SIG. Tous les paramètres sont stockés en mémoire pour permettre des résultats et des analyses répétables dans les mêmes conditions. Dans l'ensemble, JEOL JWS-8000Z est un microscope électronique à balayage électrostatique à haute résolution (SEM) avec un canon à émission de champ froid ultra haute résolution, des détecteurs polyvalents, des fonctions d'automatisation des échantillons et un détecteur segmenté Everhart-Thornley embarqué. Il offre une qualité d'imagerie supérieure et une capacité d'analyse de précision, offrant des performances fiables pour les applications d'imagerie et d'analyse dans une variété d'industries.