Occasion JEOL JWS 8000Z #293799852 à vendre en France

JEOL JWS 8000Z est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour étudier des échantillons à ultra haute résolution et contrastés. Le SEM a un grand champ de vision et un refroidissement à haut rendement grâce à sa conception avancée. Les micrographies d'électrons à balayage produites sont d'excellente qualité. L'instrument est équipé d'un étage automatisé qui permet une sélection rapide et précise des zones d'échantillonnage pour l'imagerie. Cela facilite l'exploration et l'analyse des échantillons avec un maximum de commodité et de précision. JEOL JWS-8000Z est équipé d'une chambre principale à colonne composite, capable de contrôler la haute tension et l'angle d'émission du faisceau d'électrons. Il dispose également d'un moteur pas à pas ultra-précis utilisé pour les appareils de balayage et de grossissement X-Y. Cette combinaison de technologies de pointe garantit aux images de qualité produites un pouvoir de résolution et un contraste élevés. En outre, la technologie de décélération du faisceau intégré améliore les détails d'imagerie et le contraste tout en minimisant les dommages de l'échantillon. Le microscope est également équipé d'un système de pompage turbo-moléculaire très efficace et à faible bruit. Cette unité fournit de grandes quantités de vide pour l'imagerie à des grossissements faibles et moyens. JWS 8000Z dispose également d'un filtre à énergie polyvalent. Cet outil permet à l'utilisateur de capturer des données dispersivespectra (EDE) et des images filtrées (EFI) à forte énergie, en filtrant des électrons ou des atomes indésirables. Le microscope possède un actif EDS intégré - un puissant détecteur d'électrons secondaires qui aide à détecter les oligo-éléments avec une discrimination de 20 eV. Enfin, le SEM comprend un modèle d'enregistrement d'image automatisé fonctionnant parfaitement. Cet équipement est basé sur l'imagerie numérique et accélère encore le processus d'imagerie avec des images numériques d'échantillons de haute qualité. Le logiciel sophistiqué permet l'enregistrement simultané d'images et la cartographie des rayons X. Dans l'ensemble, JWS-8000Z est un puissant outil d'imagerie pour un large éventail d'études et de processus de matériaux à ultra haute résolution, contraste et netteté, fournissant ainsi des informations supérieures pour l'analyse. Il est fiable et facile à utiliser, ce qui en fait un choix idéal pour les applications de routine et de recherche.