Occasion JEOL JWS 8755S #9035885 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JWS 8755S (SEM) est un modèle populaire de SEM utilisé dans de nombreux domaines de la science et de la technologie, y compris la science des matériaux, les études environnementales et l'imagerie médicale. JWS 8755S fournit des capacités analytiques puissantes et des capacités de grossissement supérieures. Le système dispose d'une ultra haute résolution de 2,5 nm, d'un grand champ de vision et d'une excellente capacité d'imagerie électronique rétrodiffusée. La plage de grossissement est large, avec 5 à 175kX plage de grossissement et 1kX à 1 millionx plage de grossissement. Il peut également atteindre des niveaux de luminosité et de contraste extrêmement élevés, permettant une imagerie détaillée de petits détails structurels. JEOL JWS 8755S offre également des fonctions avancées pour la vidéo numérique haute vitesse. JWS 8755S dispose d'une chambre d'échantillonnage à pression variable, permettant l'analyse d'échantillons dans une gamme d'environnements de pression. Cette caractéristique rend également le système excellent pour l'examen des échantillons sous vide, comme dans les microscopes électroniques avec des revêtements résistants. De plus, la configuration des grands étages d'échantillons de remorquage permet une large gamme d'analyses d'échantillons à l'aide de détecteurs multiples. JEOL JWS 8755S offre des capacités optiques et numériques avancées, telles qu'un détecteur anti-contraste à contraste élevé, des filtres à double énergie et un faisceau d'électrons. Il dispose également de logiciels avancés et de collecte automatisée de données avec des fonctions d'imagerie de caméra, une grande capacité de stockage interne, et une interface informatique conviviale. JWS 8755S dispose d'un puissant ensemble d'analyses automatisées pour l'analyse automatisée d'images d'échantillons, offrant une qualité d'imagerie supérieure pour une grande variété d'applications. En outre, ce modèle offre également un suivi des sources d'information et un contrôle direct de la tension de décélération. L'ensemble d'analyses automatisées permet une analyse simple des échantillons, ainsi que des applications plus complexes telles que l'analyse chimique automatisée. Dans l'ensemble, JEOL JWS 8755S offre une variété de fonctionnalités avancées, ce qui en fait un choix idéal pour une large gamme d'applications de microscopie électronique à balayage. La conception polyvalente et le logiciel système font de ce modèle un excellent choix pour l'imagerie médicale, les études environnementales, la science des matériaux, ou toute autre application SEM où l'imagerie haute résolution et l'analyse sont nécessaires.