Occasion JEOL JXA 840 #9173746 à vendre en France

JEOL JXA 840 est un microscope électronique à balayage (SEM), qui est un outil important pour visualiser des matériaux en haute résolution. L'instrument est capable d'observer les structures et les caractéristiques avec une résolution jusqu'à quelques nanomètres. Cela permet une étude détaillée de divers matériaux tels que les métaux, la céramique, les semi-conducteurs et les spécimens biologiques. JXA 840 utilise un faisceau d'électrons pour balayer un échantillon, créant ainsi une image détaillée. L'instrument dispose d'un lecteur X-Y entièrement automatisé et de haute précision qui permet un balayage rapide, ce qui le rend idéal pour les applications nécessitant un débit élevé. L'instrument offre des tensions d'accélération variables allant de 0,05 à 30kV, permettant l'imagerie et l'analyse élémentaire d'un large éventail de types d'échantillons. En plus de l'imagerie classique, l'instrument offre également une gamme de capacités d'imagerie spécialisées allant de l'imagerie basse kV aux conditions cryo. L'instrument comprend un microscope optique intégré, permettant l'observation à la fois visuelle et électronique des échantillons. Cette capacité est particulièrement utile pour examiner des échantillons qui nécessitent une plus grande plage de grossissement. JEOL JXA 840 comprend une option pour la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS), qui peut être utilisée pour analyser la composition des échantillons. L'instrument dispose également d'un détecteur EDS bien protégé, à faible vibration et haute sensibilité, qui est protégé des interférences électromagnétiques, ce qui permet d'obtenir des résultats d'analyse élémentaire précis et fiables. L'instrument dispose d'une grande chambre d'échantillonnage avec une plage de température de 10C à 600C, ce qui le rend adapté à une large gamme d'applications dépendantes de la température telles que l'analyse thermique. En outre, l'instrument est équipé d'un métallisateur d'échantillons avec une gamme de métaux de dépôt, ce qui est utile pour reproduire et préserver la topographie de différentes surfaces d'échantillons. Dans l'ensemble, le JXA 840 est un SEM incroyablement polyvalent avec une haute précision et une résolution qui convient à un large éventail d'applications de recherche. Avec ses capacités d'imagerie et d'analyse intégrées, il est un outil précieux pour caractériser, analyser et imager les matériaux à l'échelle nanométrique.