Occasion JEOL JXA 8600 #293619820 à vendre en France

JEOL JXA 8600 est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FESEM) doté d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse. Il dispose d'une colonne électrostatique achromatique ultra-précise, qui fournit une imagerie haute résolution dans tous les modes, y compris l'optique électronique sans coma et le fonctionnement de la lumière polarisée. Cela le rend idéal pour une gamme d'analyses matérielles. Le microscope est équipé d'un grand orifice à double axe et d'une chambre d'échantillonnage, permettant des opérations faciles et un support de différents types d'échantillons. Cela inclut à la fois les matériaux de la plate-forme et les options de chargement d'échantillons supplémentaires. La chambre de lentille est équipée de plaques à étages multiples, permettant une analyse d'échantillons multiples. Le poste de travail peut inclure quatre analyseurs de rayons X dispersifs d'énergie pour la cartographie et l'analyse élémentaires. JXA 8600 est capable de créer des détails et une résolution d'image époustouflante. Le système est équipé d'un faisceau d'électrons de fond ultra bas, d'un détecteur haute énergie et basse tension et d'un nouveau système d'imagerie basse tension. Cela permet la capture d'images à haute résolution de matériaux organiques et d'autres non métalliques ou semi-conducteurs. De plus, la SEM à pression variable permet d'observer les détails du sous-micromètre dans l'air ou les fluides. Le système est également équipé d'une gamme d'outils d'analyse des particules, y compris l'analyse semiquantitative et qualitative, l'analyse de la taille des particules, l'analyse de la fluorescence des rayons X à réflexion totale, la diffraction des rayons X et la diffraction par rétrodiffusion des électrons. L'optique efficace du faisceau électronique et le haut rendement de la détection des alliages élémentaires offrent un taux d'acquisition de données à grande vitesse (jusqu'à 5sec par élément). Il dispose également d'une lentille de zoom haute résolution, permettant une cartographie détaillée et l'analyse de motifs de surfaces de spécimens. Grâce à sa conception compacte et sa consommation relativement faible, JEOL JXA 8600 peut être facilement intégré dans une large gamme de configurations de laboratoire. Cela en fait un choix attrayant pour les instituts de recherche et les universités qui cherchent à explorer une gamme de matériaux et à comprendre les propriétés de leur structure.