Occasion JOEL JWS-7515 #9155405 à vendre en France

JOEL JWS-7515 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une gamme de fonctionnalités avancées qui offre d'excellentes performances dans l'imagerie de petits et de grands échantillons. Le SEM multimode haute performance est doté d'un design ultramoderne qui permet un fonctionnement efficace et une imagerie haute résolution. Le microscope offre un champ de vision très flexible pouvant atteindre 25,2 mm en un seul champ. Il utilise également un étage réglable avec une plage de +/-6 mm dans la direction x et y, permettant de regarder les échantillons en détail. JWS-7515 est équipé d'un canon FEG de grande surface de haute qualité qui utilise un système d'optique électronique avancée qui offre une capacité d'imagerie haute résolution. Ce système est soutenu par une alimentation ultra-stable qui peut atteindre une tension de faisceau d'électrons allant jusqu'à 30kV. De plus, un détecteur d'électrons secondaire à fort contraste donne des images très claires, tandis que la coupe Faraday peut mesurer les densités de courant du faisceau de 1pA à 20mA. Le SEM est conçu pour être convivial et efficace, avec plusieurs fonctionnalités pour l'imagerie automatisée. Cela comprend les fonctions d'auto-recherche pour l'alignement des échantillons et les auto-corrections pour la pression du gaz de chambre, les dosages et la tension. Son étage motorisé peut maintenir un point de consigne jusqu'à 5 μ m, permettant à l'utilisateur de se concentrer sur l'analyse de spécimens sans se soucier de l'alignement. JOEL JWS-7515 offre également une large gamme de modes d'imagerie possibles. Il s'agit notamment de l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée, ainsi que de la spectroscopie dispersive de l'énergie des rayons X (EDS) et de la diffraction par rétrodiffusion des électrons (EBSD). Cet instrument offre également des possibilités d'imagerie à pression variable et de pompage ionique. Toutes ces caractéristiques font de JWS-7515 un microscope électronique fiable et polyvalent, parfait pour l'imagerie détaillée d'une variété de spécimens. Ses fonctions de haute résolution, de recherche automatique et d'étape automatisée permettent un examen rapide et précis des échantillons, ce qui rend ce SEM idéal pour ceux qui ont besoin d'une expérience d'imagerie supérieure.