Occasion KLA / TENCOR 8100 #293648703 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil puissant pour effectuer une large gamme de tâches d'imagerie, d'analyse et de métrologie. Ce SEM est capable de générer des images haute résolution d'objets jusqu'à 1 nanomètre de taille. Il dispose d'une interface opératoire intuitive, qui permet aux opérateurs de configurer et d'ajuster rapidement leurs expériences. En outre, KLA 8100 SEM dispose d'un système d'imagerie avancé qui peut atteindre des grossissements jusqu'à 100.000x. Ce haut grossissement est essentiel pour observer les objets avec des détails fins. TENCOR 8100 SEM utilise un faisceau d'électrons pour visualiser la surface de l'échantillon. Un faisceau d'électrons à haute énergie est focalisé sur l'échantillon et interagit avec les atomes de la surface de l'échantillon. Lorsque cela se produit, il produit un effet de contraste qui crée l'image de l'échantillon. L'intensité du faisceau d'électrons peut être contrôlée et ajustée afin d'obtenir la meilleure image possible. 8100 SEM dispose également d'un système automatisé d'alignement d'échantillons qui garantit que l'échantillon est bien positionné pour la capture d'images. En plus de pouvoir générer des images haute résolution, ce SEM a également la capacité d'effectuer des tâches d'analyse et de métrologie. KLA/TENCOR 8100 SEM est équipé d'une unité de rayonnement X dispersive d'énergie intégrée qui fournit une analyse chimique de la composition de l'échantillon. KLA 8100 comprend également d'autres sondes intégrées telles que des ouvertures, des plaquettes et des films nécessaires à l'exécution de diverses tâches de métrologie. TENCOR 8100 Scanning Electron Microscope est un outil puissant qui est idéal pour la recherche d'un large éventail d'objets. Son interface intuitive, sa capacité à générer des images à haute résolution et des systèmes intégrés pour les tâches d'analyse et de métrologie en font un outil inestimable pour les laboratoires et les installations de recherche.